[发明专利]一种光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201310162071.7 申请日: 2013-05-06
公开(公告)号: CN103245670A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 潘挺;张涛;周卓伟 申请(专利权)人: 科瑞自动化技术(深圳)有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/94
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 刘文求;杨宏
地址: 518057 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 元件 缺陷 检测 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉光学元件检测领域,尤其涉及一种光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法

背景技术

现有的光学元件在生产过程中会存在着各种缺陷,譬如脏污、条纹度及气泡度等。并且在组装后的光学元件,譬如、镜头等,其内部可能会残留毛发、灰尘及脏污等等。在光学元件和光学装置中,对这些缺陷都有相应的控制要求。现有的缺陷检,一般是在绿光的照明下,人工肉眼对光学元件进行识别,从而判断光学元件的缺陷,这种检测方法受人的主观因素影响较大,对人眼有损害,检测速度慢,且检测结果不准确,也不能直观显示检测结果。

因此,现有技术还有待于改进和发展

发明内容

鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法,旨在解决现有的检测光学元件缺陷的检测速度慢,无法直观显示缺陷的问题。

本发明的技术方案如下:

一种光学元件的缺陷检测装置,其中,包括:

背光照明板,用于提供一面光源;

承载架,用于放置被测光学元件、及调整被测光学元件的位置;

光学镜头,用于采集被测光学元件不同位置的光学图像;

数字摄像机,用于将所述光学图像转换为对应的数字图像信号;

数字图像处理器,用于对所述数字图像信号进行异或运算,根据异或运算结果判断被测光学元件是否有缺陷;

显示模块,用于显示数字图像处理器的处理结果;

所述承载架、光学镜头和数字摄像机依次设置在所述背光照明板的输出光路上;所述数字图像处理器分别连接数字摄像机和显示模块。

所述的光学元件的缺陷检测装置,其中,所述承载架包括:位置调整机构,用于旋转或平移被测光学元件。

所述的光学元件的缺陷检测装置,其中,所述数字图像处理器包括:

缺陷大小检测单元,用于根据异或运算结果测量被测光学元件缺陷的大小。

所述的光学元件的缺陷检测装置,其中,所述数字图像处理器还包括:

缺陷数量检测单元,用于根据异或运算结果测量被测光学元件的不同面积缺陷对应的数量。

一种采用上述的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法,其中,包括以下步骤:

A、背光照明板输出一面光源,该面光源发出的光线穿过放置在承载架中的被测光学元件;

B、光学镜头将该位置处的被测光学元件成像至数字摄像机,经数字摄像机转换为对应的第一数字图像信号后,发送给数字图像处理器;

C、调整被测光学元件的位置;

D、所述光学镜头将调整位置后的被测光学元件成像至数字摄像机,经数字摄像机转换为对应的第二数字图像信号后,发送给数字图像处理器;

E、数字图像处理器对第一数字图像信号和第二数字图像信号进行异或运算,并根据异或运算结果判断被测光学元件是否有缺陷;

F、在显示模块上显示数字图像处理器的处理结果。

所述的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法,其中,所述步骤E还包括:

E1、根据所述运算结果测量被测光学元件缺陷的大小和对应的数量。

所述的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法,其中,所述步骤F还包括:

F1、在显示模块上显示被测光学元件的缺陷的大小和对应的数量。

相较于现有技术,本发明提供的光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法,所述缺陷检测装置由于采用了包括:背光照明板、承载架、光学镜头、数字摄像机、数字图像处理器和显示模块;所述承载架、光学镜头和数字摄像机依次设置在所述背光照明板的输出光路上;所述数字图像处理器分别连接数字摄像机和显示模块;通过背光照明板输出一面光源,该面光源发出的光线穿过放置在承载架中的被测光学元件,光学镜头采集被测光学元件不同位置的光学图像,将其发送至数字摄像机,经数字摄像机转换为对应的数字图像信号后,发送给数字图像处理器,所述数字图形处理器对光学元件在不同位置所对应的数字图像信号进行异或运算,根据运算结果判断被测光学元件是否有缺陷,并在显示模块上显示数字图像处理器的处理结果,从而提高了检测速度,提高了检测结果的准确率,将光学元件的缺陷直观显示出来,为检测人员带来了大大的方便。

附图说明

图1为本发明提供的光学元件的缺陷检测装置的结构框图

图2为本发明提供的光学元件的缺陷检测装置的数字图像处理器的结构框图。

图3为本发明提供的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法的流程图。

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