[发明专利]一种光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201310162071.7 申请日: 2013-05-06
公开(公告)号: CN103245670A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 潘挺;张涛;周卓伟 申请(专利权)人: 科瑞自动化技术(深圳)有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/94
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 刘文求;杨宏
地址: 518057 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 元件 缺陷 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种光学元件的缺陷检测装置,其特征在于,包括:

背光照明板,用于提供一面光源;

承载架,用于放置被测光学元件、及调整被测光学元件的位置;

光学镜头,用于采集被测光学元件不同位置的光学图像;

数字摄像机,用于将所述光学图像转换为对应的数字图像信号;

数字图像处理器,用于对所述数字图像信号进行异或运算,根据异或运算结果判断被测光学元件是否有缺陷;

显示模块,用于显示数字图像处理器的处理结果;

所述承载架、光学镜头和数字摄像机依次设置在所述背光照明板的输出光路上;所述数字图像处理器分别连接数字摄像机和显示模块。

2.根据权利要求1所述的光学元件的缺陷检测装置,其特征在于,所述承载架包括:位置调整机构,用于旋转或平移被测光学元件。

3.根据权利要求1所述的光学元件的缺陷检测装置,其特征在于,所述数字图像处理器包括:

缺陷大小检测单元,用于根据异或运算结果测量被测光学元件缺陷的大小。

4.根据权利要求3所述的光学元件的缺陷检测装置,其特征在于,所述数字图像处理器还包括:

缺陷数量检测单元,用于根据异或运算结果测量被测光学元件的不同面积缺陷对应的数量。

5.一种采用权利要求1所述的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

A、背光照明板输出一面光源,该面光源发出的光线穿过放置在承载架中的被测光学元件;

B、光学镜头将该位置处的被测光学元件成像至数字摄像机,经数字摄像机转换为对应的第一数字图像信号后,发送给数字图像处理器;

C、调整被测光学元件的位置;

D、所述光学镜头将调整位置后的被测光学元件成像至数字摄像机,经数字摄像机转换为对应的第二数字图像信号后,发送给数字图像处理器;

E、数字图像处理器对第一数字图像信号和第二数字图像信号进行异或运算,并根据异或运算结果判断被测光学元件是否有缺陷;

F、在显示模块上显示数字图像处理器的处理结果。

6.根据权利要求5所述的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤E还包括:

E1、根据所述运算结果测量被测光学元件缺陷的大小和对应的数量。

7.根据权利要求6所述的光学元件的缺陷检测装置的缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤F还包括:

F1、在显示模块上显示被测光学元件的缺陷的大小和对应的数量。

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