[发明专利]存储器及其测试方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求2012年6月28日提交的申请号为10-2012-0069690的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本发明的示例性实施例涉及一种存储器及其测试方法，更具体而言，涉及一种利用具有低时钟频率的测试设备的同时能减少存储器的测试时间的存储器测试方法。

背景技术

存储器被制造之后，存储器经历各种测试以检测存储器是否正常地操作。一般地，在执行存储器测试时，由于存储器接收时钟信号、并且与接收的时钟信号同步地操作，所以测试设备将时钟信号输入到存储器、并且输入和输出测试数据。存储器测试可以包括：用于判定单元是否正常操作的测试，用于检查相邻的金属线之间的耦合效应的测试，以及用于检查具有时间特性的信号之间的余量的测试。供作参考，在存储器的制造成本中，执行存储器测试所需的时间可能为重要的因素。因此，随着执行存储器测试所需的时间增加，所以存储器的制造成本也会增加。

此外，用于执行存储器测试的测试设备内部产生时钟信号、命令信号以及用于测试的数据，将产生的信号和数据输入到存储器，接收从存储器输出的数据，以及分析存储器是否正常操作。由于同步存储器与从外部输入的时钟信号同步执行全部操作，所以存储器的操作速度根据从外部输入的时钟信号的频率来确定。因此，执行存储器测试所需的时间取决于从测试设备施加到存储器的时钟信号的频率。

随着存储器的操作速度的增加，存储器已经利用了高频时钟信号。然而，一些测试设备会对其内部产生的时钟信号的频率具有一些限制。在这种情况下，当执行存储器测试时，存储器必须与测试设备产生的较低频率的时钟信号同步地操作。因此，测试存储器所需的时间会不期望地增加。

发明内容

各种实施例涉及一种存储器及其测试方法，即使测试存储器时使用测试设备执行测试，所述测试方法也能通过内部产生具有高频的时钟信号来减少测试时间。

此外，各种实施例涉及一种存储器及其测试方法，所述存储器及其测试方法能利用在存储器内部产生的时钟信号来测试各种操作。

在一个实施例中，一种存储器包括：存储体，所述存储体包括多个存储器单元；命令译码器，所述命令译码器被配置成与时钟信号同步地操作、并且响应于多个命令信号而将包括激活命令、写入命令、校准命令以及MRS命令的多个命令中的至少一个激活；测试译码器，所述测试译码器被配置成响应于多个地址信号和MRS命令而将存储器设定为测试模式；以及测试控制器，所述测试控制器被配置成当存储器被设定成测试模式时在基于通过对具有比时钟信号更高频率的测试时钟信号计数获得的计数信息确定的时间点将用于测试操作存储体的至少一个内部测试命令激活。

在另一个实施例中，一种存储器包括：存储体，所述存储体包括多个存储器单元；命令译码器，所述命令译码器被配置成与时钟信号同步地操作、并且响应于多个命令信号而将包括写入命令和MRS命令的多个命令中的至少一个激活；测试译码器，所述测试译码器被配置成响应于多个地址信号和MRS命令而将存储器设定为测试模式；以及测试控制器，所述测试控制器被配置成当存储器被设定成测试模式时在写入命令被激活之后在基于通过对具有比时钟信号高的频率的测试时钟信号计数获得的计数信息确定的时间点将用于对存储体预充电的测试预充电命令激活。

在另一个实施例中，一种存储器包括：存储体，所述存储体包括多个存储器单元；命令译码器，所述命令译码器被配置成与时钟信号同步地操作、并且响应于多个命令信号而将包括激活命令和MRS命令的多个命令中的至少一个激活；测试译码器，所述测试译码器被配置成响应于多个地址信号和MRS命令而将存储器设定为测试模式；以及测试控制器，所述测试控制器被配置成当存储器被确定为测试模式时在基于通过对具有比时钟信号高的频率的测试时钟信号计数获得的计数信息确定的时间点将用于将数据写入存储体中的测试写入命令和用于对存储体预充电的测试预充电命令激活。