[发明专利]存储器及其测试方法

权利要求书

1.一种存储器，包括：

存储体，所述存储体包括多个存储器单元；

命令译码器，所述命令译码器被配置成：与时钟信号同步地操作，并且响应于多个命令信号而将包括激活命令、写入命令、校准命令、以及MRS命令的多个命令中的至少一个激活；

测试译码器，所述测试译码器被配置成响应于多个地址信号和所述MRS命令而将所述存储器设定成测试模式；以及

测试控制器，所述测试控制器被配置成：当所述存储器被设定成所述测试模式时，在基于计数信息而确定的时间点将用于测试操作所述存储体的至少一个内部测试命令激活，所述计数信息通过对具有比所述时钟信号高的频率的测试时钟信号计数而获得。

2.如权利要求1所述的存储器，其中，所述至少一个内部测试命令被配置成包括：用于激活所述存储体的测试激活命令、用于对所述存储体预充电的测试预充电命令、以及用于将数据写入所述存储体的测试写入命令激活。

3.如权利要求2所述的存储器，其中，当所述至少一个内部测试命令被激活时，所述测试译码器产生用于确定时间点的至少一个测试时间信息。

4.如权利要求3所述的存储器，其中，所述至少一个内部测试命令被配置成包括所述测试激活命令和所述测试预充电命令，

其中，所述测试控制器包括：

测试时钟发生单元，所述测试时钟发生单元被配置成产生所述测试时钟信号；

信号发生单元，所述信号发生单元被配置成：在所述存储器被设定成所述测试模式的状态下，响应于所述计数信息而交替地激活所述测试激活命令和所述测试预充电命令；以及

时钟发生控制单元，所述时钟发生控制单元被配置成：在所述存储器被设定成所述测试模式的状态下，响应于所述激活命令而启动所述测试时钟发生单元，并且响应于所述校准命令而禁止所述测试时钟发生单元。

5.如权利要求4所述的存储器，其中，所述信号发生单元包括：

时钟计数单元，所述时钟计数单元被配置成对所述测试时钟信号计数、并且产生所述计数信息；以及

计数信息判定单元，所述计数信息判定单元被配置成：在所述存储器被设定成所述测试模式的状态下，当所述计数信息具有预定值时将所述测试激活命令激活，并且当所述计数信息具有与所述测试时间信息相对应的值时将所述测试预充电命令激活。

6.如权利要求3所述的存储器，其中，所述至少一个内部测试命令被配置成包括所述测试预充电命令，

其中，所述测试控制器被配置成在所述写入命令被激活之后将所述测试预充电命令激活。

7.如权利要求6所述的存储器，其中，所述测试控制器包括：

测试时钟发生单元，所述测试时钟发生单元被配置成产生所述测试时钟信号；

信号发生单元，所述信号发生单元被配置成：在所述存储器被设定成所述测试模式的状态下，在所述写入命令被激活之后，在基于所述计数信息和所述测试时间信息确定的时间点将所述测试预充电命令激活；以及

时钟发生控制单元，所述时钟发生控制单元被配置成：在所述存储器被设定成所述测试模式的状态下，响应于所述写入命令而启动所述测试时钟发生单元，并且响应于所述测试预充电命令而禁止所述测试时钟发生单元。

8.如权利要求7所述的存储器，其中，所述信号发生单元包括：

时钟计数单元，所述时钟计数单元被配置成对所述测试时钟信号计数、并且产生所述计数信息；以及

计数信息判定单元，所述计数信息判定单元被配置成：在所述存储器被设定成测试模式的状态下，当所述计数信息具有与所述测试时间信息相对应的值时，将所述测试预充电命令激活。

9.如权利要求3所述的存储器，其中，所述至少一个内部测试命令被配置成包括所述测试写入命令和所述测试预充电命令，

其中，所述至少一个测试时间信息被配置成包括第一测试时间信息和第二测试时间信息，所述第一测试时间信息用于判定所述测试写入命令被激活时的时间点，所述第二测试时间信息用于判定所述测试预充电命令被激活时的时间点。

10.如权利要求9所述的存储器，其中，所述测试控制器包括：

测试时钟发生单元，所述测试时钟发生单元被配置成产生所述测试时钟信号；

信号发生单元，所述信号发生单元被配置成：在所述存储器被设定成测试模式的状态下，在所述激活命令被激活之后，在基于所述计数信息和所述第一测试时间信息确定的时间点将所述测试写入命令激活，并且在基于所述计数信息和所述第二测试时间信息确定的时间点将所述测试预充电命令激活；以及

时钟发生单元，所述时钟发生单元被配置成：在所述存储器被设定成所述测试模式的状态下，响应于所述写入命令而启动所述测试时钟发生单元、并且响应于所述测试预充电命令而禁止所述测试时钟发生单元。