[发明专利]一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及红外焦平面阵列探测器的读出电路，尤其涉及一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路。

背景技术

目前红外成像系统在军事、空间技术、医学以及国民经济相关领域正得到日益广泛的应用。红外焦平面阵列组件是红外成像技术中获取红外图像信号的核心光电器件。红外焦平面阵列组件由红外探测器和红外焦平面读出电路（ROIC：readout integrated circuits）组成。随着红外焦平面阵列组件规模的不断扩大，作为其重要组成部分的红外焦平面读出电路需要满足更高的工作性能。

ROIC电路是把红外焦平面的各种功能集成在单一的半导体芯片中的高集成度电路，其基本功能是进行红外探测器信号的转换、放大以及传输，即将数据从许多红外探测器端依次传输到输出端。常见的ROIC电路包括单元电路、列读出级和输出缓冲级、时序产生电路、行选择电路和列选择电路。行选择电路是ROIC电路的重要组成部分，它的性能好坏直接影响整个读出电路的性能。

在红外读出电路制作完成以后，红外敏感单元阵列制作以前，对红外读出电路进行检测是必要的，这样可以提高红外探测器的成品率，节约成本和时间。

红外敏感单元阵列制作以前，红外读出电路的数字电路可以通过测试信号控制选择相应的信号输入进行检测。但是红外焦平面阵列读出电路的模拟电路在红外敏感单元阵列制作以前却很难检测，因为电路不完整，输出为随机信号。

发明内容

本发明的目的之一是提供一种能够检测红外焦平面阵列读出电路的红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路。

本发明实施例公开的技术方案包括：

提供了一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路，其特征在于，包括：单位增益运算放大器10，所述单位增益运算放大器10包括反相输入端、第一同相输入端、第二同相输入端和输出端，所述反相输入端连接到所述输出端，所述第一同相输入端连接到所述红外焦平面读出电路的探测电路；测试电路20，所述测试电路20连接到所述单位增益运算放大器10的第二同相输入端。

进一步地，所述单位增益运算放大器包括第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、第四晶体管M4、第五晶体管M5和第六晶体管M6，其中：所述第一晶体管M1的栅极连接到所述第一同相输入端，漏极连接到所述第四晶体管M4的漏极，源极连接到所述第六晶体管M6的漏极；所述第二晶体管M2的栅极连接到所述反相输入端，漏极连接到所述第五晶体管M5的漏极，源极连接到所述第六晶体管M6的漏极；所述第三晶体管M3的栅极连接到所述第二同相输入端，漏极连接到所述第四晶体管M4的漏极，源极连接到所述第六晶体管M6的漏极；所述第四晶体管M4的源极连接到系统电源，栅极连接到所述第五晶体管M5的栅极并且连接到所述第四晶体管M4的漏极；所述第五晶体管M5的源极连接到系统电源，漏极连接到所述输出端；所述第六晶体管M6的源极接地，栅极连接到电流端口（Vnbias）。

进一步地，还包括积分电路30和采样保持电路40，所述积分电路30连接到所述单位增益运算放大器10的输出端，所述采样保持电路40连接到所述积分电路30的输出端。

本发明的实施例中，检测电路可以在红外焦平面阵列制作敏感像元之前对读出电路进行检测，筛选出不合格的电路，节省红外焦平面阵列的制作成本。在制作敏感像元后正常工作时，又可以保证测试输入端（即单位增益运算放大器的第二同相输入端）不影响单位增益运算放大器的正常工作，即不会带来性能上的衰减。

附图说明

图1是本发明一个实施例的红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路的示意图。

图2是本发明一个实施例的单位增益运算放大器的结构示意图。

图3是本发明一个实施例的检测电路在测试时的信号流示意图。

图4是本发明一个实施例的检测电路在正常工作时的信号流示意图。

具体实施方式

下面将参考附图详细说明本发明的实施例。

图1为本发明一个实施例的红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路的结构示意图。

如图1所示，本发明的一个实施例中，一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路包括单位增益运算放大器10。该单位增益运算放大器10包括反相输入端inn、第一同相输入端inp、第二同相输入端inp_ts和输出端，其中反相输入端inn连接到输出端，构成负反馈。