[发明专利]一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路无效

专利信息
申请号: 201310152362.8 申请日: 2013-04-27
公开(公告)号: CN103267579A 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 吕坚;阙隆成;杜一颖;周云 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 谭新民
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 平面 读出 电路 控制电路 检测
【权利要求书】:

1.一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路,其特征在于,包括:

单位增益运算放大器(10),所述单位增益运算放大器(10)包括反相输入端、第一同相输入端、第二同相输入端和输出端,所述反相输入端连接到所述输出端,所述第一同相输入端连接到所述红外焦平面读出电路的探测电路;

测试电路(20),所述测试电路(20)连接到所述单位增益运算放大器(10)的第二同相输入端。

2.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述单位增益运算放大器(10)包括第一晶体管(M1)、第二晶体管(M2)、第三晶体管(M3)、第四晶体管(M4)、第五晶体管(M5)和第六晶体管(M6),其中:

所述第一晶体管(M1)的栅极为所述第一同相输入端,漏极连接到所述第四晶体管(M4)的漏极,源极连接到所述第六晶体管(M6)的漏极;

所述第二晶体管(M2)的栅极为所述反相输入端,漏极连接到所述第五晶体管(M5)的漏极,源极连接到所述第六晶体管(M6)的漏极;

所述第三晶体管(M3)的栅极为所述第二同相输入端,漏极连接到所述第四晶体管(M4)的漏极,源极连接到所述第六晶体管(M6)的漏极;

所述第四晶体管(M4)的源极连接到系统电源,栅极连接到所述第五晶体管(M5)的栅极并且连接到所述第四晶体管(M4)的漏极;

所述第五晶体管(M5)的源极连接到系统电源,漏极为所述输出端;

所述第六晶体管(M6)的源极接地,栅极连接到电流端口(Vnbias)。

3.如权利要求1或者2所述的检测电路,其特征在于:还包括积分电路(30)和采样保持电路(40),所述积分电路(30)连接到所述单位增益运算放大器(10)的输出端,所述采样保持电路(40)连接到所述积分电路(30)的输出端。

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