[发明专利]一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种分析用标准样品的制备方法，具体涉及一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法。

背景技术

X荧光光谱仪（XPF）能够非破坏性地快速进行多元素分析，可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其他很多基质样品中的未知成分，已成为有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。X荧光光谱仪是一种比较测量装置，其示值仅仅是一个信号，并不是被测量的量值，只有当用已知量值，如标准物质的量值进行标定，建立起已知量值与示值信号的函数关系后，才能将信号大小转换成被测量的量值。实际工作中，由于基体效应的存在，使得分析元素的浓度和示值信号并不严格成正比，这就需要待测样与建工作曲线的标准样品基材一致。

然而，每个仪器使用者由于各自的特点，其待测样品各不相同，所以有必要根据自身的特点制备符合要求的标准样品。X荧光分析用固体样品的制样方法有粉末压片法和熔融制样法。粉末压片法成本低、速度快、易操作，适用于生产控制，其缺点是此方法制成的样品存在较严重的颗粒效应，容易影响测量结果的准确性。熔融法是将原料熔融后再注入模具成型，用此方法制得的样品强度较高，表面光滑，均匀性好，可以很好第克服颗粒效应。但是，ROHS分析需要的固体标准样品目标元素质量百分含量为ppm级，由于微量组份量值很小，在固体基材中不易均匀稳定分布，用上述两种方法制作出来的样品很难达到国家一级标准物质对特性量均匀性、稳定性的要求，这也是目前尚未见到ROHS分析用标准样品研制方法报道的原因之一。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种目标元素质量百分含量为ppm级的X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，制备的样品具有良好的均匀性与稳定性，能达到一级标准物质对特性量均匀性、稳定性的要求。

为实现上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，包含以下制备步骤：

a、熔融：将基材加热至基材的熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合均匀的混合物板材放入模具中，混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；

b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。

优选的是：所述基材为PE、PP或PVC。

优选的是：所述基材为PE。

优选的是：所述熔融温度为115～125℃。

优选的是，目标元素的质量百分含量为0～6000ppm。

优选的是：所述目标元素为Cd、Pb、Hg、Cr和Br中的一种或几种。

优选的是：步骤a中所使用的设备为熔炼机，在进行熔融操作时，所述熔炼机的两辊间相对间距为3mm。

优选的是：步骤b中所使用的设备为压片机，其压片过程为：循环“加压-放松”操作3次，以减少混合物板材里面的气泡，然后再持续加压3分钟，使混合物板材定型。

优选的是：所述步骤b后按方差分析法对样品进行均匀性检验，按平均值一致性检验法对样品进行稳定性检验。

相对于现有制样方法，本发明的制样方法是在现有的熔融未加压注模制样工艺的基础上，改进工艺流程，采用熔融加压片工艺制备目标元素质量百分含量为ppm级的X荧光光谱分析用标准样品，制备的样品表面光滑，内部无气泡，具有良好的均匀性与稳定性，符合ROHS分析用标准样品的量值要求，且具有一定的浓度梯度分布，能达到一级标准物质对特性量均匀性、稳定性的要求。按方差分析法（F检验法）进行均匀性检验，平均值一致性检验法进行稳定性验证，结果表明：采用本发明制备的标准样品可以用于制作X荧光光谱仪ROHS分析用工作曲线，标准样品经过定值后可以进行量值传递，可以校准ROHS分析用X荧光光谱仪。

附图说明

图1示出了本发明所述制备方法的流程图；

图2示出了本发明中均匀性检验测试点分布图。

具体实施方式

一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，其特征在于，包含以下制备步骤：

a、熔融：将基材加热至基材的熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合均匀的混合物板材放入模具中，混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；

b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。

下面结合实施例对本发明的具体实施方式做进一步描述，但本发明并不限于下述实施例。