[发明专利]一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法无效
| 申请号： | 201310135254.X | 申请日： | 2013-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN103245538A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 刘晓丽 | 申请（专利权）人： | 广州赛宝计量检测中心服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 510000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱分析 标准 样品 制备 方法 | ||
1.一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，其特征在于，包含以下制备步骤：
a、熔融：将基材加热至熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合均匀的混合物板材放入模具中，混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；
b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。
2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述基材为PE、PP或PVC。
3.根据权利要求2所述的制备方法，其特征在于：所述基材为PE。
4.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述熔融温度为115～125℃。
5.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述待测样品中，目标元素的质量百分含量为0～6000ppm。
6.根据权利要求4所述的制备方法，其特征在于：所述目标元素为Cd、Pb、Hg、Cr和Br中的一种或几种。
7.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：步骤a中所使用的设备为熔炼机，在进行熔融操作时，所述熔炼机的两辊间相对间距为3mm。
8.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：步骤b中所使用的设备为压片机，其压片过程为：循环“加压-放松”操作3次，以减少混合物板材里面的气泡，然后再持续加压3分钟，使混合物板材定型。
9.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述步骤b后按方差分析法对样品进行均匀性检验，按平均值一致性检验法对样品进行稳定性检验。
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