[发明专利]一种测试FPGA开发板的装置和方法

权利要求书

1.一种测试FPGA开发板的装置，其特征在于，FPGA开发板包括FPGA芯片，

装置包括：

LED灯板，包括多个LED灯，每一个LED灯的负端接地，且连接一个对应的LED管脚，LED灯在对应的LED管脚处于高电位时点亮；

其中，LED管脚，用于与FPGA开发板中高速座的通信管脚电连接，其中，高速座的通信管脚与FPGA芯片的功能管脚对应电连接；

测试单元，与FPGA开发板的JTAG口连接，用于设置FPGA芯片的各个功能管脚的导通规律，根据与所述功能管脚和通信管脚对应的LED灯的亮灭得到功能管脚和通信管脚的导通情形。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，LED灯板包括至少一个LED区域；

每一个LED区域中，LED管脚的排列与高速座中对应的待测试区域中通信管脚的排列一致。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，测试单元包括：

第一测试模块，用于设置所有的功能管脚为高电位；或者，设置位于FPGA芯片的第一侧的功能管脚为高电位，同时，设置位于第二侧的功能管脚为低电位；

第二测试模块，用于设置位于FPGA芯片的同一侧的相邻的功能管脚的电位相异。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，

所述测试单元，还用于测试级联的两块FPGA开发板时，与第二FPGA开发板的JTAG口连接，第二FPGA开发板的上方包括第一FPGA开发板，第一FPGA开发板通过互连座与第二FPGA开发板级联形成互连FPGA开发板；

LED灯板，与第一FPGA开发板的高速座连接。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，测试单元还包括：

第三测试模块，用于设置第二FPGA开发板的所有的功能管脚为高电位；或者，设置第二FPGA开发板的位于FPGA芯片的第一侧的功能管脚为高电位，同时，设置位于第二侧的功能管脚为低电位；

第四测试模块，用于设置第二FPGA开发板的位于FPGA芯片的同一侧的相邻的功能管脚的电位相异。

6.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，测试单元包括：

第一测试结果判定模块，与第一测试模块连接，用于当功能管脚处于高电位，且对应的LED灯不亮时，判定该功能管脚处，或者与该功能管脚连接的通信管脚处有断路，

当功能管脚处于高电位，且对应的LED灯闪烁时，判定该功能管脚处，或者与该功能管脚连接的通信管脚处有虚焊，

第二测试结果判定模块，与第二测试模块连接，用于当相邻的功能管脚对应的LED灯始终点亮时，判定所述相邻的功能管脚处，或者与该功能管脚连接的相邻的通信管脚处有短路。

7.一种测试FPGA开发板的方法，其特征在于，FPGA开发板包括FPGA芯片，

方法包括：

在LED灯板中，设置每一个LED管脚连接一个对应的LED灯，全部LED灯的负端接地，LED灯在对应的LED管脚处于高电位时点亮；

设置LED管脚的排列与FPGA开发板中高速座的通信管脚的排列一致，支持与通信管脚实现电连接；

将高速座的通信管脚与FPGA芯片的功能管脚对应电连接；

通过FPGA开发板的JTAG口设置FPGA芯片的各个功能管脚的导通规律。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，

将第一FPGA开发板设置于第二FPGA开发板的上方，并通过互连座与第二FPGA开发板级联，形成互连FPGA开发板。

9.根据权利要求7或者8所述的方法，其特征在于，通过FPGA开发板的JTAG口设置FPGA芯片的各个功能管脚的导通规律，具体包括：

在第一测试场景中，设置所有的功能管脚为高电位；

或者，在第二测试场景中，设置位于FPGA芯片的第一侧的功能管脚为高电位，同时，设置位于第二侧的功能管脚为低电位；

或者，在第三测试场景中，设置位于FPGA芯片的同一侧的相邻的功能管脚的电位相异。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，

在第一测试场景或者第二测试场景中，当功能管脚处于高电位，且对应的LED灯不亮时，该功能管脚处，或者与该功能管脚连接的通信管脚处有断路，

当功能管脚处于高电位，且对应的LED灯闪烁时，该功能管脚处，或者与该功能管脚连接的通信管脚处有虚焊，

在第三测试场景中，当相邻的功能管脚对应的LED灯始终点亮时，所述相邻的功能管脚处，或者与该功能管脚连接的相邻的通信管脚处有短路。