[发明专利]一种光学材料透过率的测试系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及材料光学性能测试技术领域，尤其是指一种光学材料透过率的测试系统及测试方法。

背景技术

目前，对于光学材料如光学陶瓷、光学晶体、光学玻璃和光学塑料等来说，光谱透过率的测试是研究和开发材料的重点步骤，测试过程通常参照业内标准进行。例如光学陶瓷透过率的测试参照JB/T9495.3-1999中有关“光学晶体透过率测量方法”的规定进行。

传统测试方法采用入射光垂直入射或者小角度入射被测试样品的方式，如图1、图2和图3所示分别为采用传统方法的测试原理示意图。

采用图1所示测试方法，光源1所发射光线垂直入射被测样品2，入射光经过被测样品后，沿原入射光的传播方向进入探测器3，但该方法只能测试被测样品2接收垂直光照射的穿透性能；采用图2和图3所示测试方法，光源1所发射光线相对于被测样品2的表面以一定角度传输进入，经被测样品2折射后，朝探测器3的方向传输，然而由于现有测试系统探测器3的光接收范围较小，如图2和图3所示，常见系统中，探测器3只能接收到一部分入射光甚至完全不能接收到入射光，这些系统采用有角度入射测试时对样品的厚度有一定限制。

因此现有技术的常见系统中光学材料透过率测试方法，无法保证对被测样品有角度入射时透过率测量的准确性，已经不适用于光学材料的透过率测试，而有角度入射时透过率测试方法是提高光材料研究和开发速度的重要途径，因此很有必要改进现有测试方法，完成光学材料在有角度入射时的光谱透过率的准确测试。

发明内容

为解决上述问题，本发明技术方案的目的是提供一种光学材料透过率的测试系统及测试方法，能够实现光学材料在有角度入射时的光谱透过率的准确测试。

本发明一方面提供一种光学材料透过率的测试系统，所述测试系统包括：

用于提供透过率测试照射光的光源，所述光源沿第一方向发射光线，获得用于测试的入射光；

至少两个被测样品，第一被测样品用于接收所述入射光，且所述入射光相对于所述第一被测样品表面呈一角度，所述入射光穿透所述第一被测样品之后获得第一折射光；第二被测样品用于接收所述第一折射光，且使所述第一折射光穿透所述第二被测样品之后获得第二折射光，沿第二方向传输，其中所述第一方向与所述第二方向位于同一直线上，所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同；

探测器，用于接收所述第二折射光，检测获得所述第二折射光的光强I。

优选地，所述测试系统还包括：

计算单元，用于计算所述第一被测样品的透过率τ₁和所述第二被测样品的透过率τ₂：其中τ₁=τ₂=（I/I₀）^1/2，其中I₀为所述光源所发出入射光的光强。

优选地，所述测试系统还包括：

分光光度计，用于形成一测定光路，其中所述第一被测样品、所述第二被测样品和所述探测器设置于所述测定光路上。

优选地，上述所述的测试系统，所述第一被测样品相对于水平线第一方向的设置角度为第一角度，所述第二被测样品相对于所述水平线第一方向的设置角度为第二角度，其中所述第一角度与所述第二角度互补。

优选地，上述所述的测试系统，所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同包括：厚度相同、材料相同、加工精度相同及各向异性的晶体的晶向也应相同。

优选地，所述测试系统还包括：

一样品支架，至少包括两个可以调节角度和/或位置的样品槽，所述第一被测样品和所述第二被测样品分别放置于其中一所述样品槽内。

优选地，上述所述的测试系统，所述入射光相对于所述第一被测样品表面所呈角度大于零度小于等于90度。

本发明另一方面还提供一种光学材料透过率的测试方法，所述测试方法包括：

光源沿第一方向发射光线，获得用于测试的入射光；

第一被测样品接收所述入射光，且所述入射光相对于所述第一被测样品表面呈一角度，所述入射光穿透所述第一被测样品之后获得第一折射光；第二被测样品接收所述第一折射光，且使所述第一折射光穿透所述第二被测样品之后获得第二折射光，沿第二方向传输；其中所述第一方向与所述第二方向位于同一直线上，且所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同；

探测器接收所述第二折射光，并检测获得所述第二折射光的光强I。

优选地，所述测试方法还包括：