[发明专利]一种光学材料透过率的测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种光学材料透过率的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

用于提供透过率测试照射光的光源，所述光源沿第一方向发射光线，获得用于测试的入射光；

至少两个被测样品，第一被测样品用于接收所述入射光，且所述入射光相对于所述第一被测样品表面呈一角度，所述入射光穿透所述第一被测样品之后获得第一折射光；第二被测样品用于接收所述第一折射光，且使所述第一折射光穿透所述第二被测样品之后获得第二折射光，沿第二方向传输，其中所述第一方向与所述第二方向位于同一直线上，所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同；

探测器，用于接收所述第二折射光，检测获得所述第二折射光的光强I。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：

计算单元，用于计算所述第一被测样品的透过率τ₁和所述第二被测样品的透过率τ₂：其中τ₁=τ₂=（I/I₀）^1/2，其中I₀为所述光源所发出入射光的光强。

3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：

分光光度计，用于形成一测定光路，其中所述第一被测样品、所述第二被测样品和所述探测器设置于所述测定光路上。

4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第一被测样品相对于水平线第一方向的设置角度为第一角度，所述第二被测样品相对于所述水平线第一方向的设置角度为第二角度，其中所述第一角度与所述第二角度互补。

5.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同包括：厚度相同、材料相同、加工精度相同及各向异性的晶体的晶向也相同。

6.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：

一样品支架，至少包括两个可以调节角度和/或位置的样品槽，所述第一被测样品和所述第二被测样品分别放置于其中一所述样品槽内。

7.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述入射光相对于所述第一被测样品表面所呈角度大于零度小于等于90度。

8.一种光学材料透过率的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

光源沿第一方向发射光线，获得用于测试的入射光；

第一被测样品接收所述入射光，且所述入射光相对于所述第一被测样品表面呈一角度，所述入射光穿透所述第一被测样品之后获得第一折射光；第二被测样品接收所述第一折射光，且使所述第一折射光穿透所述第二被测样品之后获得第二折射光，沿第二方向传输；其中所述第一方向与所述第二方向位于同一直线上，且所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同；

探测器接收所述第二折射光，并检测获得所述第二折射光的光强I。

9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

计算单元计算所述第一被测样品的透过率τ₁和所述第二被测样品的透过率τ₂：其中τ₁=τ₂=（I/I₀）^1/2，其中I₀为所述光源所发出入射光的光强。

10.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述第一被测样品相对于水平线第一方向的设置角度为第一角度，所述第二被测样品相对于所述水平线第一方向的设置角度为第二角度，其中所述第一角度与所述第二角度互补。