[发明专利]晶体生长炉有效
| 申请号: | 201310124381.X | 申请日: | 2013-04-11 |
| 公开(公告)号: | CN103184514A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
| 发明(设计)人: | 王劼;张立国;范亚明;张洪泽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B25/08 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 晶体生长 | ||
技术领域
本发明涉及晶体生长领域,具体涉及一种用于碳化硅外延生长的晶体生长装置。
背景技术
碳化硅(SiC)是第三代宽禁带半导体材料,具有宽禁带、高击穿电压、高热导率、高电子饱和漂移速率、高电子迁移率、小介电常数、强抗辐射性、高化学稳定性等优点,是制造高温、高频、大功率、抗辐射、非挥发存储器件及光电集成器件的关键材料。碳化硅电力电子器件具有转换效率高、耐高温、抗辐射等特点,已经逐渐在电力转换、太阳能光伏、电动汽车、高效马达等领域取代硅器件,开始崭露头角。
碳化硅电力电子器件的性能,取决于碳化硅外延材料的质量。制备外延材料的碳化硅外延设备,需要在高温1600℃下稳定工作,通常都采用石墨毡来保温和隔热,但石墨毡在高温下会释放出杂质,是反应室内杂质的一个主要来源。因此,采用石墨毡的碳化硅外延设备都存在着反应室不够纯净,导致外延片的背景载流子浓度高的问题(一般在5í1015 cm-3以上)。外延片中的杂质,对碳化硅器件的漏电等性能,会产生不良影响。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明的目的是设计一种不使用石墨毡的高温碳化硅晶体生长装置,既提高了系统的洁净度,降低外延片的背景载流子浓度,又能够满足碳化硅高温加热的需要,从而获得高质量的碳化硅外延片。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种晶体生长炉,包括反应室和加热装置,所述的反应室包括第一热壁和第二热壁,所述的第一热壁和第二热壁可拆卸连接,且所述的第一热壁和第二热壁围成晶体的反应空间,所述的第二热壁的材质为石墨,所述的加热装置配合第二热壁设置以对其进行加热;所述第一热壁的材质为高温耐热材料,所述高温耐热材料包括石英、刚玉和石墨。
进一步的,所述晶体生长炉还包括进气装置,所述的进气装置位于所述的反应空间内,包括进气通道和喷头,所述喷头的材质为石墨,所述进气通道的材质为石英;所述的加热装置的位置与喷头的位置对应以实现对喷头的加热。
作为一种优选的方案,所述喷头为喷淋头结构。
作为一种优选的方案,所述第一热壁的底端设有卡扣/卡口,所述的第二热壁的顶端配合设有卡口/卡扣。
作为一种优选的方案,所述进气通道和喷头可拆卸连接;具体的,所述的进气通道的底端设有卡扣/卡口,所述的喷头的顶端配合设有卡口/卡扣。
作为一种优选的方案,还包括冷却侧壁,所述的冷却侧壁形成一收容空间,所述的反应室位于该收容空间内,所述的加热装置为绕设于所述冷却侧壁的感应线圈;进一步的,所述的冷却侧壁为双层的水冷侧壁。
相比于现有技术,本发明具有如下的优点:
1)反应室的保温、隔热不采用石墨毡,改用一种可拆卸式连接的第一热壁和第二热壁组合形成的热壁结构,消除了采用石墨毡来保温和隔热所造成的反应室杂质污染的问题,极大的降低了外延片的背景载流子浓度;并且,可拆卸式热壁,易于安装,更换方便;
2)进气装置包括可拆卸连接的进气通道和喷头,其中喷头设计为喷淋头结构,更换方便,并且可以根据实际生长需要,改变喷淋头孔径大小,调节气体到达衬底表面的流速,适用于不同外延生长;喷头采用材质为石墨,由于石墨良好的热导性,气体在扩散到样品表面前被预热,充分裂解,能够均匀扩散到样品表面;
3)所述晶体生长炉同时具有“热壁”和“冷壁”。“热壁”的加热作用,使反应室内温度升温保持在1650度高温,而反应室外壁为双层石英水冷侧壁,石英隔热性好,水冷能够将辐射到石英壁的热量带走,迅速使反应室外壁降温为室温,避免可能发生的高温伤害;
4)位于反应室上部的第一热壁和进气通道采用石英材质,由于石英隔热性好,可以阻挡下部石墨高温加热的热量,抑制生长炉上顶盖温度升高;而且石英的膨胀系数小,可以有效防止升温降温过程中的膨胀导致的开裂问题;石英易于清洁,能够保证高纯度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一实施例的晶体生长炉的结构示意图;
图2a为图1中的晶体生长炉中的第二热壁的主视图;
图2b为图2a所示的第二热壁的俯视图;
图3a为图1所示的晶体生长炉中的喷头的主视图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,未经中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310124381.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:充气填料式挡土墙及其施工方法
- 下一篇:桃子醋的生产





