[发明专利]一种无源无线电容式湿度传感器的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310117713.1 申请日: 2013-04-08
公开(公告)号: CN103213942A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 陈洁;张聪;秦明;黄庆安 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01N27/22
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 无源 无线 电容 湿度 传感器 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电容式湿度传感器的制备方法,具体来说,涉及一种无源无线电容式湿度传感器的制备方法。

背景技术

湿度传感器广泛应用于气象检测、农业生产、工业控制、医疗设备等领域。近年来,湿度传感器的发展越来越趋向于微型化。现有的微型湿度传感器类型主要包括电容式、电阻式、压阻式及微电子机械系统(微电子机械系统,英文为Micro-Electronic-Mechanical Systems,文中简称MEMS)等。目前无线遥测传感器包括两大类:有源遥测和无源遥测。有源遥测是指传感系统中带有电源,这种遥测方式可以双向长距离传输传感器信号,但是其系统复杂、尺寸大,而且电池需要更换。无源遥测是指传感系统中没有电源,利用电感耦合或射频(RF)反射调制实现信号的获取,这种遥测方式信号传输距离短,但是体积小、不需要更换电池,理论上可以无限期工作。其中,LC无源无线湿度传感器是无源遥测中的最主要的一类。

随着传感器市场的发展,无线传感器将成为物联网发展的一个重要方向。但是传感器微型化程度加深,引线问题是需要解决的一大问题,另外有些场合不能使用引线,这就需要使用无线传感器。

发明内容

技术问题:本发明所要解决的技术问题是:提供了一种无源无线电容式湿度传感器的制备方法,该制备方法可以实现批量化、大规模生产无源无线电容式湿度传感器,工艺简单,且一致性、可靠性高。

技术方案:为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:

一种无源无线电容式湿度传感器的制备方法,该制备方法包括以下步骤:

步骤10)采用热氧化工艺,在硅衬底上热氧化生长一层热氧化层;

步骤20)采用低压化学气相淀积法,在步骤10)制备的热氧化层上淀积一层多晶硅层,并采用光刻工艺,在多晶硅层上光刻多晶硅加热电阻;

步骤30)采用低压化学气相淀积法,在步骤20)制成的多晶硅层淀积二氧化硅层,利用反应离子刻蚀法,在二氧化硅层上刻蚀接触孔,该接触孔位于多晶硅加热电阻的末端;

步骤40)采用溅射工艺,在步骤30)制成的二氧化硅层的顶面溅射一铝层,然后采用光刻工艺,在铝层上刻蚀梳齿状电极、金属引线锚区、金属电感和加热电阻锚区;

步骤50)利用等离子体增强化学气相沉积法,在步骤40)制成的铝层上方淀积一层钝化层;

步骤60)利用反应离子刻蚀法,将位于电极上方以及位于电极侧壁的钝化层刻蚀去除,然后采用刻蚀法,对位于被刻蚀的钝化层下方的二氧化硅层进行刻蚀,在二氧化硅层上形成凹槽,最后采用旋涂工艺,在电极上方和电极侧壁上,填充聚酰亚胺层,制成无源无线电容式湿度传感器。

有益效果:与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:

(1)可批量化、大规模生产。本发明的制备方法采用梳齿电容以及聚酰亚胺层作为湿度传感器,梳齿的两个电极作为电容的上下电容极板,制成电容式湿度传感器。该电容式湿度传感器敏感膜采用填充聚酰亚胺得到。以上全部工艺均可与CMOS标准工艺兼容,因此可实现MEMS湿度传感器的批量化,大规模生产。

(2)灵敏度高。本发明的制备方法制备的传感器,梳齿状电容的两个电极作为电容的上下电容极板,感湿材料采用聚酰亚胺,灵敏度高。

(3)可靠性高。本发明的制备方法制备的传感器,梳齿状电容的两个电极与电感的两个端口连接不需要外接引线,可靠性高。

附图说明

图1 是本发明中步骤10)制成器件的结构示意图。

图2 是本发明中步骤20)制成器件的结构示意图。

图3 是本发明中步骤30)制成器件的结构示意图。

图4 是本发明中步骤40)制成器件的结构示意图。

图5 是本发明中步骤50)制成器件的结构示意图。

图6 是本发明中步骤60)制成器件的结构示意图。

图7 是本发明制成的铝层的俯视图。

图中有:硅衬底1、热氧化层2、多晶硅层3、二氧化硅层4、铝层5、钝化层6、聚酰亚胺层7、多晶硅加热电阻8、电容9、电容上极板锚区101、电容下极板锚区102、金属电感11、电感内连接线12、电感外引线锚区13、加热电阻锚区14。

具体实施方式

下面结合附图,对本发明的技术方案进行详细的说明。

本发明的一种无源无线电容式湿度传感器的制备方法,包括以下步骤:

步骤10)如图1所示,采用热氧化工艺,在硅衬底1上热氧化生长一层热氧化层2。

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