[发明专利]一种填料用片层材料径厚比的测算方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种填料用片层材料径厚比的测算方法，属于片层材料粒度测试技术领域。

背景技术

国内外现有的粒度分布测试方法主要包括：筛分法、显微镜法、沉降法、激光法、电镜法、超声波法、透气法等。这些方法均给出的是等效粒径数据，未能给出所测试样径厚比的相关数据，有些测试通过大规模综合运用扫描电镜、透射电镜及图像法来对径厚比进行表征，但结果不可靠，重复性差，且工作量大，成本过高。

国内已知相关径厚比的研究还比较原始：1995年，于冰等利用透射电镜测量层状硅酸盐细粉厚度；1998年，任耀依靠偏光显微镜对少量片层矿物径厚比进行测量的，填补了早期国内对矿物径厚比测量的空白，但上述两种方法都相对原始且操作难度大，不精确且不易于推广。2004年，过永康提出了高径厚比微片对涂料的影响和好处，并未提出如何获得此类材料的技术或方法。2005年，冯启明、董发勤等对片层材料石墨的研究中，用扫描电镜对石墨进行了径厚比测量，方式相对原始，工作量大，结果比较片面。2008年，白翠萍对云母的径厚比做了较系统的研究，提出并对比了多种测试方法，值得借鉴，但该方法过于繁琐，工作量大，辅助仪器过多，且仅针对云母等高径厚比片层材料有一定适用性，推广性不强。由此可见，国内迄今为止尚没有提出专门针对片层材料径厚比测算的普遍适用的方法。国外测量径厚比一般采用电子扫描显微电镜法、X光投射图像法或X光衍射结构分析法等。这些方法测定中所用的仪器价格昂贵，一般生产单位不具备这样的条件，且应用具有局限性。

电阻法是一种唯一能通过三维测量而直接提供颗粒体积数据和绝对计数的分析方法，它根据颗粒在通过一个小微孔的瞬间，占据了小微孔中的部分空间而排开了小微孔中的导电液体，使小微孔两端的电阻发生变化的原理测试粒度分布的。由于小孔两端电阻变化的大小与颗粒的体积成正比，当不同大小的粒径颗粒连续通过小微孔时，小微孔的两端将连续产生不同大小的电阻变化，小微孔两侧的电极施加了一个恒定的电流流经小微孔，使小微孔的电阻变化转变成可以通过计算机处理的电压脉冲信号，对脉冲信号进行处理从而获得相应的粒度分布。通过分析计算脉冲信号，可获得颗粒的径厚比数据。

发明内容

本发明为解决现有的片层材料粒度测量技术中存在的工作方式较复杂、测量成本较高以及精确度较低的问题，进而提供了一种填料用片层材料径厚比的测算方法。为此，本发明提供了如下的技术方案：

（1）将待测试样品粉末水洗；

（2）调整溶液的酸碱性；

（3）将溶液添加分散剂分散；

（4）对溶液进行超声波分散；

（5）采用电阻法仪器进行测试；

（6）取适量溶液滴入电阻法仪器并将抽真空状态的微孔管放置在所述电导液中，在所述微孔管内外的电导液中各放置一个电极，并在所述电极的两端加预定的电压；

（7）根据所述电极之间的电压脉冲信号计算获得所述试样的片层径厚比；

本发明中，优选的，所述步骤（1）中，所述的粉体样品与水的质量比为1:5～20；

本发明中，优选的，所述步骤（1）中，所述水洗液必须为二次去离子水；

本发明中，优选的，所述步骤（2）中，滴加氢氧化钠溶液使得测试样品溶液保持碱性，其pH值保持在8-10.5之间，优选9.5-10；

本发明中，优选的，所述步骤（3）中，所述分散剂选自六偏磷酸钠、焦磷酸钠、聚丙烯酸钠、聚丙烯酰胺；氨基酸盐中一种或几种，分散剂与水的比例为0.1-1%之间，优选0.2-0.5%；

本发明中，优选的，所述步骤（4）中，超声波分散，所需时间为15—30分钟，每隔5分钟静置2分钟，控制温度在25-50℃；

本发明中，优选的，所述步骤（5）中，所用仪器必须为以电阻法测试粒度的仪器，包括贝克曼库尔特仪、亚欧/DP-RC-3000型电阻法粒度仪、OMEC-RC-2100型电阻颗粒计数仪、庆地质仪器厂的电阻率法仪器等中的一种或几种，优选贝克曼库尔特仪；

本发明中，优选的，所述步骤（6）中，将测试样品溶液混入电解液中，混合比例为1:5-10；

本发明中，优选的，所述步骤（6）中，针对所测样品的粒径范围，选择适配的微孔管：小孔管的型号用其孔径来标识，如20μm、30μm、50μm等。小孔管的有效分析粒径是其孔径的2％-60％，如100μm的小孔管，其分析粒径为2.0μm～60.0μm，在这个范围内，所测得的结果能够确保线性。通常可根据了解的被测对象微粒的大致范围来选择合适的小孔管；