[发明专利]短路检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种阵列基板线路的短路检测方法及装置。

背景技术

随着电子技术的发展，平板显示器件得到了飞速的发展，如液晶显示器件、等离子体显示器件和OLED（OrganicLight-EmittingDiode，有机发光二极管）显示器件。在平板显示器件当中，液晶显示器件由于其重量低、体积小、能耗低等优点，从而得到了广泛的应用。

现有技术中，液晶显示器件的阵列基板上设有金属线，该金属线包括数据线和栅极线，在阵列基板的制程中包括对金属线的断路和短路测试。其中，对金属线的短路测试通常采用的方法是，将信号发射传感器设置于一条金属线的一端上，信号接收传感器设置于该金属线的另一端，通过判定信号接收传感器是否接收到信号发射传感器发射的检测信号作为依据判定当前检测的金属线是否存在断路缺陷，若信号接收传感器未收到信号，则表示该金属线与其相邻的金属线之间存在断路。而金属线的短路缺陷的检测是通过自动光学扫描仪对阵列基板的金属线进行光学检测，确定金属线的短路位置。由于自动光学扫描仪为采用光学原理进行扫描，因此其在检测时会误判金属线的短路位置，从而影响了阵列基板的生产效率。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种短路检测方法，旨在降低阵列基板线路的短路检测难度。

为了实现发明目的，本发明提供一种短路检测方法，该短路检测方法包括以下步骤：

通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印，形成转印后的线路；

检测转印后的线路中的断路位置；

根据所述断路位置分析阵列基板线路的短路位置。

优选地，所述通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印的步骤具体包括：

通过曝光转印法将阵列基板线路转印至涂有光电导层的平板上。

优选地，所述平板上被光照射的光电导层部分形成导电线。

优选地，所述根据断路位置分析阵列基板线路的短路位置步骤具体为，分析转印后形成的断路线路所对应的阵列基板线路中两相邻线路。

优选地，所述检测转印后的线路中的断路位置的步骤具体包括：

控制间隔设置于转印后的同一线路上、且与该线路电连接的信号发射传感器和信号接收传感器垂直于所述线路移动；

判断在移动的过程中信号接收传感器是否存在未接收到信号发射传感器发射的检测信号的现象；

若是，则判定当前检测的转印后线路中存在断路；

若否，则判定当前检测的转印后线路中未存在断路。

本发明还提供一种短路检测装置，该短路检测装置包括：

转印模块，用于通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印，形成转印后的线路；

检测模块，用于检测转印后的线路中的断路位置；

分析模块，用于根据所述断路位置分析阵列基板线路的短路位置。

优选地，所述转印模块用于通过曝光转印法将阵列基板线路转印至涂有光电导层的平板上。

优选地，所述平板上具有被光照射的光电导层部分形成的导电线。

优选地，所述分析模块用于分析转印后形成的断路线路所对应的阵列基板线路中两相邻线路。

优选地，所述分析模块包括：

信号发射传感器，用于输出检测信号至转印后的线路上；

信号接收传感器，用于接收信号发射传感器所发射的检测信号；

控制单元，用于控制间隔设置于转印后的同一线路上、且与该线路电连接的所述信号发射传感器和信号接收传感器垂直于所述线路移动；

判断单元，判断在移动的过程中信号接收传感器是否存在未接收到信号发射传感器发射的检测信号的现象；若是，则判定当前检测的转印后线路中存在断路；若否，则判定当前检测的转印后线路中未存在断路。

本发明通过曝光转印法对阵列基板线路进行转印，然后检测转印后的线路中的断路位置，最后根据断路位置分析基板对应的短路位置。从而实现了将阵列基板线路中短路检测转化为断路检测，因此降低了阵列基板线路的短路检测难度，提高了生产效率。

附图说明

图1为本发明短路检测方法一实施例的流程示意图；

图2为阵列基板线路的结构示意图；

图3为曝光转印后平板上的线路结构示意图；

图4为本发明短路检测方法另一实施例的流程示意图；

图5为本发明短路检测装置一实施例的结构示意图；

图6为图5中检测模块的结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。