[发明专利]短路检测方法及装置

权利要求书

1.一种短路检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印，形成转印后的线路；

检测转印后的线路中的断路位置；

根据所述断路位置分析阵列基板线路的短路位置。

2.如权利要求1所述的短路检测方法，其特征在于，所述通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印的步骤具体包括：

通过曝光转印法将阵列基板线路转印至涂有光电导层的平板上。

3.如权利要求2所述的短路检测方法，其特征在于，所述平板上被光照射的光电导层部分形成导电线。

4.如权利要求1所述的短路检测方法，其特征在于，所述根据断路位置分析阵列基板线路的短路位置步骤具体为，分析转印后形成的断路线路所对应的阵列基板线路中两相邻线路。

5.如权利要求1至4中任一项所述的短路检测方法，其特征在于，所述检测转印后的线路中的断路位置的步骤具体包括：

控制间隔设置于转印后的同一线路上、且与该线路电连接的信号发射传感器和信号接收传感器垂直于所述线路移动；

判断在移动的过程中信号接收传感器是否存在未接收到信号发射传感器发射的检测信号的现象；

若是，则判定当前检测的转印后线路中存在断路；

若否，则判定当前检测的转印后线路中未存在断路。

6.一种短路检测装置，其特征在于，包括：

转印模块，用于通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印，形成转印后的线路；

检测模块，用于检测转印后的线路中的断路位置；

分析模块，用于根据所述断路位置分析阵列基板线路的短路位置。

7.如权利要求6所述的短路检测装置，其特征在于，所述转印模块用于通过曝光转印法将阵列基板线路转印至涂有光电导层的平板上。

8.如权利要求7所述的短路检测装置，其特征在于，所述平板上具有被光照射的光电导层部分形成的导电线。

9.如权利要求6所述的短路检测装置，其特征在于，所述分析模块用于分析转印后形成的断路线路所对应的阵列基板线路中两相邻线路。

10.如权利要求6至9中任一项所述的短路检测装置，其特征在于，所述分析模块包括：

信号发射传感器，用于输出检测信号至转印后的线路上；

信号接收传感器，用于接收信号发射传感器所发射的检测信号；

控制单元，用于控制间隔设置于转印后的同一线路上、且与该线路电连接的所述信号发射传感器和信号接收传感器垂直于所述线路移动；

判断单元，判断在移动的过程中信号接收传感器是否存在未接收到信号发射传感器发射的检测信号的现象；若是，则判定当前检测的转印后线路中存在断路；若否，则判定当前检测的转印后线路中未存在断路。