[发明专利]内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元

说明书

技术领域

本发明涉及一种内存单元测试系统，尤其涉及一种具有可快速插拔的引脚外接单元的内存单元测试系统。

背景技术

当前计算机内存速率越来越快，容量越来越大，这对内存数据的读取稳定性提出更高要求。业界目前使用测量内存在不同参考电压下的数据读取工作稳定度来评估计算机内存的性能好坏，即内存工作电压范围测量。现有测内存工作电压测量方法要求针对每一内存单元均进行电压测量，在更换测试点时，需要关闭计算机，然后重新焊接测试点，这样一块主机板一种内存配置的测试最多需要重复开关机以及焊接八次，极大消耗测试时间，同时焊接也带来损坏主机板的危险。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元，以解决上述问题。

一种内存单元测试系统，包括一计算机、一可调电阻单元、一电压表及一引脚外接单元。该计算机包括一内存单元接口，用于连接待测内存单元，该可调电阻单元用于调节内存单元的工作电压，该引脚外接单元，包括基板及多个导电柱，所述多个导电柱对应于内存接口单元的引脚的位置排列设置在基板上，用于将内存单元接口的上的引脚引出以方便焊接可调电阻单元及电压表。该计算机中存储有一内存单元测试软件，用于在不同的工作电压下测试内存单元稳定性。

一引脚外接单元，包括基板及多个导电柱，该基板用于设置导电柱。该多个导电柱，用于连接内存单元接口背面相应的引脚，其中，该多个导电柱对应于内存单元接口背面的引脚位置垂直排列插设在上述基板上。

本发明提供一种内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元，结合内存单元接口背面的引脚结构，通过可快速插拔的引脚外接单将内存单元上相关电压引脚外置，以方便焊接，能有效地保护主板并大大提高了内存单元的测试效率。

附图说明

图1为本发明一实施例内存单元测试系统的示意图。

图2为图1所示内存单元测试装置中引脚外接单元的立体示意图。

图3为图2所示引脚外接单元连接至内存单元接口背面引脚的剖面示意图。

主要元件符号说明

内存单元测试系统1计算机10可变电阻单元11引脚外接单元12电压表13内存单元14内存单元测试软件15主板101内存单元接口102引脚103基板121导电柱122测试用导电柱1221非测试用导电柱1222中空部1223弹片123