[发明专利]内存单元测试系统及应用于该系统中的引脚外接单元

权利要求书

1.一种内存单元测试系统，用于内存单元稳定性测试，包括一可变电阻单元、电压表及一计算机，该可变电阻单元用于调节内存单元的工作电压，该电压表用于指示内存单元当前的工作电压，该计算机包括一主板及安装有一内存单元测试软件，该主板上设有内存单元接口，该内存单元接口的引脚外露于该主板的背面，该内存测试软件用于在不同工作电压下测试内存单元的稳定性，其特征在于，该内存单元测试系统还包括一引脚外接单元，该引脚外接单元包括：

基板，用于设置导电柱；及

多个导电柱，用于连接内存单元接口背面相应的引脚，其中，该多个导电柱对应于内存单元接口背面的引脚位置垂直排列插设在上述基板上；

其中，该可变电阻单元及电压表与上述引脚外接单元上的相应的导电柱电连接。

2.如权利要求1所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述导电柱的贯穿于主板中的部分包括一中空部，其中设置一对弧形弹片，用于夹持内存单元接口背面相应的引脚，其中，所述弧形弹片与导电柱电连接。

3.如权利要求1所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度高于非测试用导电柱。

4.如权利要求3所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述可变电阻单元和电压表与所述测试用导电柱电连接。

5.如权利要求1所述的内存单元测试系统，其特征在于，所述多个导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度与非测试用导电柱的高度一致。

6.一种引脚外接单元，应用于一内存单元测试系统中，该内存单元测试系统用于内存单元稳定性测试，包括一可变电阻单元、电压表及一计算机，该可变电阻单元用于调节内存单元的工作电压，该电压表用于指示内存单元当前的工作电压，该计算机包括一主板及安装有一内存单元测试软件，该主板上设有内存单元接口，该内存单元接口的引脚外露于该主板的背面，该内存测试软件用于在不同工作电压下测试内存单元的稳定性，其特征在于，该引脚外接单元包括：

基板，用于设置导电柱；及

多个导电柱，用于连接内存单元接口背面相应的引脚，其中，该多个导电柱对应于内存单元接口背面的引脚位置垂直排列插设在上述基板上；

其中，可变电阻单元及电压表与上述引脚外接单元上的相应导电柱电连接。

7.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述导电柱的贯穿于主板中的部分包括一中空部，其中设置一对弧形弹片，用于夹持内存单元接口背面相应的引脚，其中，所述弧形弹片与导电柱电连接。

8.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度高于非测试用导电柱。

9.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述可变电阻单元和电压表与所述测试用导电柱电连接。

10.如权利要求6所述的引脚外接单元，其特征在于，所述多个导电柱包括测试用导电柱和非测试用导电柱，其中，测试用导电柱的高度与非测试用导电柱的高度一致。