[发明专利]快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路。

背景技术

最近几年来随着数位咨询和多媒体应用不断的增加，以及世界各大显示器厂商的推波助澜，而使得平面显示器快速地深入每个家庭与个人，而人类对于高品质的影像显示器是非常期待的。而有机电激发光二极管显示器（OLED）由于其重量轻、体积薄、反应速度快、亮度高、省电、对比度高、视角广、成本低等优点备受关注。

由于OLED的各种优点，它的像素驱动电路研究便成为了热点。由于每个像素驱动电路中驱动管由于制造偏差导致阈值电压不完全相等，以及驱动管老化而导致阈值电压的偏移，会导致面板呈现显示亮度不均匀的现象。所以像素驱动电路的重点研究问题之一就是驱动管老化的补偿问题。

综上所述，检测一个像素驱动电路对其驱动管是否具有阈值补偿作用也变得极其重要。在设计阶段，通过检测像素驱动电路的实际补偿效果，可以检验设计，帮助设计者发现电路的问题，找到下一步的工作方向。在实用阶段，通过检测像素驱动电路的实际补偿效果，可有利于调整控制算法，减小由于阈值变化带来的显示缺陷。而现阶段，对于这方面的研究还很空缺。因此，有必要进行相关测试电路的设计，能够快速检测像素驱动电路对驱动管阈值补偿效果。

发明内容

本发明的目的在于解决上述问题，提出了一种测试电路，该测试电路通过改变MOS管衬底电压来快速改变阈值电压，以达到加速老化的作用，进而实现快速检测像素驱动电路是否对驱动管有阈值补偿作用的目的。

本发明的上述目的是这样实现的：所说的测试电路，其特征在于：测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为                                                ，是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极以及电容C的端口2相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。

附图说明

图1是本发明中的测试电路；

图2是针对像素驱动电路的测试框图。

图3是以4T1C电路作为像素驱动电路时的测试框图

具体实施方式

下面结合附图与实施例对本发明作进一步详细描述。

测试电路的结构如图1所示。测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为，是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极、电容C的端口2以及OLED的正极相连；OLED的负极和地相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。

如图2所示，操作模块有一个输入端口和两个输出端口，输入端口输入的是测试电路输出的反馈电压；所说的两个输出端口分别与测试电路的衬底电压和像素驱动电路的驱动管衬底相连。

操作模块工作的时候分两个阶段：