[发明专利]快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路

权利要求书

1.一种快速检测像素驱动电路驱动管老化补偿的检测方法，使用的测试电路模块，其特征在于：测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压端口，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为，是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为                                               ，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极以及电容C的端口2相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。