[发明专利]一种自适应配置芯片的方法及装置

权利要求书

1.一种自适应配置芯片的方法，其特征在于，包括：

通过测试链路将每个待识别芯片与测试控制器进行连接；

测试控制器通过测试链路扫描每个待识别芯片，获取每个待识别芯片的芯片型号；

根据每个待识别芯片的芯片型号，确定每个待识别芯片和/或与每个待识别芯片连接的其它芯片的配置参数，并将所述配置参数配置到相应的芯片上。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试控制器扫描与其连接的每个待识别芯片的步骤之前，还包括：

测试控制器通过所述测试链路，控制每个待识别芯片进入扫描模式。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在扫描模式下，所述测试控制器通过所述测试链路扫描每个待识别芯片的器件标志寄存器，并获取每个待识别芯片的芯片型号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述获取每个待识别芯片的芯片型号的步骤之后，还包括：

测试控制器通过所述测试链路，控制每个待识别芯片退出扫描模式。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在每个待识别芯片退出扫描模式后，测试控制器为每个待识别芯片和/或与每个待识别芯片连接的其它芯片确定配置参数，并利用芯片配置控制器，将所述配置参数发送至相应的芯片。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述测试控制器是JTAG控制器，所述测试链路是JTAG链路，通过将每个待识别芯片的JTAG接口与JTAG控制器连接，形成JTAG链路。

7.一种自适应配置芯片的装置，其特征在于，包括通过测试链路连接每个待识别芯片的测试控制器，所述测试控制器包括：

芯片型号获取模块，用于通过测试链路扫描每个待识别芯片，获取每个待识别芯片的芯片型号；

配置参数确定模块，用于根据每个待识别芯片的芯片型号，确定每个待识别芯片和/或与每个待识别芯片连接的其它芯片的配置参数，并将所述配置参数配置到相应的芯片上。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测试控制器还包括：

扫描模式控制模块，用于在扫描每个待识别芯片前，通过测试链路控制每个待识别芯片进入扫描模式，并在获取每个待识别芯片的芯片型号后，通过测试链路控制每个待识别芯片退出扫描模式。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

芯片配置控制器，用于将所述测试控制器确定的配置参数发送至相应的待识别芯片和/或与每个待识别芯片连接的其它芯片。

10.根据权利要求7-9任意一项所述的装置，其特征在于，所述测试控制器是JTAG控制器，其与每个待识别芯片的JTAG接口连接，形成作为测试链路的JTAG链路。