[发明专利]一种预测放射不良反应相关基因突变检测芯片

说明书

技术领域

本发明属于分子生物学技术领域，涉及一种放射不良反应相关基因突变检测芯片。

背景技术

恶性肿瘤是威胁人类健康的重大慢性疾病。超过一半的肿瘤患者需要进行放射治疗，但肿瘤患者放疗不良反应个体差异较大。过去解决肿瘤放疗不良反应个体差异，集中在放疗手段或技术的提高。随着分子生物学的发展及人类基因组计划的完成，尤其是药物基因组学和放射基因组学的发展，使从分子基因水平寻找肿瘤放疗不良反应个体差异的原因成为研究热点。研究发现一些基因或蛋白与肿瘤放疗不良反应密切相关，包括癌基因、抑癌基因、细胞周期蛋白、细胞凋亡基因、生长因子、DNA修复基因等。检测放射治疗不良反应个体差异的肿瘤生物遗传标志物，以便在放疗前对不良反应进行预测和评估，将有利于临床医生制定放疗的个体化治疗方案。

生物芯片技术始于上世纪80年代末和90年代初南点杂交发明人Dr.Sountern研发的反向南点杂交实验。生物芯片产业技术主要涉及到生物芯片制备、生物芯片应用、生物芯片信息处理分析等方面。生物芯片技术已成为高效、大规模获取相关信息的重要手段。目前生物芯片技术已广泛应用于分子生物学研究、疾病的预防诊断与治疗、新药研发、司法鉴定、环境污染监测和食品卫生监督等诸多领域。

本发明采用生物芯片技术检测与放射治疗不良反应相关的基因突变位点，提前预测放射治疗可能引起的不良反应，将有利于临床医生个体化选择放疗方案，使患者治疗利益最大化。

发明内容

本发明旨在针对目前在肿瘤放射治疗过程中，出现对放疗不良反应个体差异的预测。提供一种方便、快捷的辅助临床医生制定个体化放疗相关基因型诊断芯片。

为了达到上述目的，本发明提供的技术方案为：

一种预测放射不良反应相关基因突变检测芯片，包括固相基片和点载在固相基片上的基因探针阵列；所述基因探针含有与放射不良反应相关基因突变位点的互补寡核苷酸序列；所述不良反应相关基因突变位点是TGFB1 rs1800469，SOD2 rs4880，XRCC1rs25487，XRCC3 rs861539，ATM rs1801673，TP53 rs1042522和NOS3 rs1799983。所述TGFB1，SOD2，XRCC1，XRCC3，ATM，TP53和NOS3的序列如SEQ ID NO.1-7所示。

其中，所述基因探针包括野生型基因探针和突变型基因探针，基因探针长度为17-22bp；具体而言，所述基因探针包括：

TGFB1 rs1800469野生型探针5′-CAGGGTCAGTGCCGTAAT-3′

                            （SEQ ID NO.8）

TGFB1 rs1800469突变型探针5′-TACTGTCAAAATGCCGCT-3′

                            （SEQ ID NO.9）

SOD2 rs4880野生型探针5′-GTCCTCGGGGTAATACATCCAA-3′

                            （SEQ ID NO.10）

SOD2 rs4880突变型探针5′-GAAGGTTTTCGGCAGACGTGAC-3′

                            （SEQ ID NO.11）

XRCC1 rs25487野生型探针5′-CTTGTCAACATAGGATCAT-3′

                            （SEQ ID NO.12）

XRCC1 rs25487突变型探针5′-TGGCTGCAAAATGCGATCT-3′

                            （SEQ ID NO.13）

XRCC3 rs861539野生型探针5′-ATGGGCCCACTGTGTTATTT-3′

                            （SEQ ID NO.14）

XRCC3 rs861539突变型探针5′-CCCTGAGATTACGGCTTAAA-3′

                            （SEQ IDNO.15）