[发明专利]一种预测放射不良反应相关基因突变检测芯片在审

专利信息
申请号: 201310062989.4 申请日: 2013-02-28
公开(公告)号: CN103173543A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 郭成贤;尹继业;裴奇;周伯庭;孟祥光;王瑛;陈娟 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68;C40B40/06
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 卢宏
地址: 410083 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 预测 放射 不良反应 相关 基因突变 检测 芯片
【权利要求书】:

1.一种预测放射不良反应相关基因突变检测芯片,包括固相基片和点载在固相基片上的基因探针阵列,其特征在于,所述基因探针含有与放射不良反应相关基因突变位点的互补寡核苷酸序列;所述不良反应相关基因突变位点是TGFB1 rs1800469,SOD2 rs4880,XRCC1 rs25487,XRCC3 rs861539,ATM rs1801673,TP53 rs1042522和NOS3rs1799983。

2.如权利要求1所述的芯片,其特征在于,所述基因探针包括野生型基因探针和突变型基因探针,基因探针长度为17-22bp。

3.如权利要求1所述的芯片,其特征在于,所述基因探针包括:

TGFB1 rs1800469野生型探针  5′-CAGGGTCAGTGCCGTAAT-3′

TGFB1 rs1800469突变型探针  5′-TACTGTCAAAATGCCGCT-3′

SOD2 rs4880野生型探针      5′-GTCCTCGGGGTAATACATCCAA-3′

SOD2 rs4880突变型探针      5′-GAAGGTTTTCGGCAGACGTGAC-3′

XRCC1 rs25487野生型探针    5′-CTTGTCAACATAGGATCAT-3′

XRCC1 rs25487突变型探针    5′-TGGCTGCAAAATGCGATCT-3′

XRCC3 rs861539野生型探针   5′-ATGGGCCCACTGTGTTATTT-3′

XRCC3 rs861539突变型探针   5′-CCCTGAGATTACGGCTTAAA-3′

ATM rs1801673野生型探针    5′-TTGAGCTCCATTGGTCAT-3′

ATM rs1801673突变型探针    5′-TCAGACTGGTTCTCTAGT-3′

TP53 rs1042522野生型探针   5′-ACATACGTGTGCGAGGA-3′

TP53 rs1042522突变型探针   5′-ATATGAACGATGCAACA-3′

NOS3 rs1799983野生型探针   5′-AATCAACTTACTGTAAACTTG-3′

NOS3 rs1799983突变型探针   5′-AATGAGTCGCCTCCTACTAGC-3′

4.如权利要求3所述的芯片,其特征在于,所述基因探针还包括阳性参照探针5′-ACTCTAAGTGCTATGCC-3′。

5.如权利要求1所述的芯片,其特征在于,所述固相基片材料为硅片、玻璃片、塑料片或尼龙膜中的一种或它们的任意组合。

6.如权利要求1所述的芯片,其特征在于,所述基因探针及固相基片表面包被多聚赖氨酸或琼脂糖。

7.如权利要求1所述的芯片,其特征在于,所述基因探针及固相基片表面修饰有氨基或醛基。

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