[发明专利]存储器、修复系统与其测试方法无效

专利信息
申请号: 201310062173.1 申请日: 2007-09-04
公开(公告)号: CN103177770A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 廖惇雨;陈宗申 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42;G11C29/44;G06F11/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 修复 系统 与其 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种存储器,包括:

一存储器阵列,包括至少一存储单元,该至少一存储单元被写入至少一原始数据;

一错误校正码单元,用以由该至少一存储单元读取至少一测试数据,当一错误出现于该至少一测试数据时,校正该至少一测试数据,并据以输出至少一错误校正数据;以及

一比较器,用以从该存储器中取得该未经写入至该存储器阵列的至少一原始数据,并决定该至少一原始数据与该至少一错误校正数据是否相同,并输出一输出信号,该输出信号表示该至少一存储单元为测试成功或测试失败。

2.如权利要求1所述的存储器,其中,该存储器还包括一错误记录单元,用以当该至少一存储单元为测试失败时,记录该至少一存储单元。

3.如权利要求1所述的存储器,其中,该存储器还包括一错误记录单元,该至少一存储单元位于该存储器阵列的一存储器行或一存储器列,当该至少一存储单元为测试失败时,该错误记录单元记录该存储器行或该存储器列。

4.如权利要求3所述的存储器,其中,记录于该错误记录单元的该存储器行或该存储器列由该存储器阵列的一修复行或一修复列来取代。

5.如权利要求1所述的存储器,其中,该至少一原始数据由一测试器写入至该至少一存储单元,该比较器将由该测试器所传送的该至少一原始数据与该至少一错误校正数据进行比较。

6.如权利要求1所述的存储器,其中,该错误校正码单元为一位的错误校正码单元。

7.一测试方法,用以测试一存储器阵列的至少一存储单元,该测试方法包括:

写入至少一原始数据至该至少一存储单元;

由该至少一存储单元读取至少一测试数据,对该至少一测试数据执行一错误校正码运算,并据以输出至少一错误校正数据;以及

决定该至少一错误校正数据与该至少一原始数据是否相同,以决定该至少一存储单元为测试成功或测试失败。

8.如权利要求7所述的方法,还包括:

当该至少一存储单元为测试失败时,记录该至少一存储单元。

9.如权利要求7所述的方法,其中该至少一存储单元位于该存储器阵列的一存储行或一存储列,该方法还包括:

当该至少一存储单元测试失败时,记录该存储行或该存储列。

10.如权利要求7所述的方法,其中,于执行该错误校正码运算的步骤中,当一错误出现于该至少一测试数据时,校正该至少一测试数据,并据以输出该至少一错误校正数据。

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