[发明专利]一种有机质腐殖化水平的综合评价方法有效
| 申请号: | 201310060961.7 | 申请日: | 2013-02-27 |
| 公开(公告)号: | CN103163112A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
| 发明(设计)人: | 何小松;席北斗;李翔;潘红卫;李丹 | 申请(专利权)人: | 中国环境科学研究院 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
| 地址: | 100012 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 有机质 腐殖 水平 综合 评价 方法 | ||
技术领域
本发明属于固体废物处理与资源化利用领域,具体涉及一种通过投影寻踪模型将多个腐殖化指标拟合成一个进行有机质腐殖化水平综合评价的方法。
背景技术
堆肥和填埋是有机废弃物最常用的两种处理方式,在堆肥和填埋过程中,有机质通过降解和腐殖化最终达到稳定,有机质腐殖化水平的高低直接影响着堆肥的腐熟度和填埋的稳定度。
有机质腐殖化最常用的研究手段是电子自旋共振和C13-核磁共振,然而这两种技术常受到堆肥和填埋垃圾中含有的顺磁性重金属的影响,一旦堆肥和填埋垃圾中含有重金属,这两种技术就不能利用了。
由于荧光光谱技术价格低廉,操作简单,不受样品中顺磁性金属的影响,近年来荧光光谱技术常用于有机质腐殖化水平的评价中。
目前通过荧光光谱评价有机质腐殖化水平有三类指标:
第一类指标是有机质在254nm激发波长下发射光谱435-480nm范围内的积分值与300-345nm范围内的积分值之比;
第二类是有机质在特定波长差下的同步荧光光谱中类腐殖质荧光峰与类蛋白荧光峰强度之比或类富里酸荧光峰与类蛋白荧光峰强度之比;
第三类是有机质在465nm激发波长下发射光谱的积分面积。
这三类指标主要基于两个原理,第一个原理是随着有机质腐殖化程度的升高荧光发射光谱会向长波方向红移,第一和第二类指标就基于这个原理。第二个原理是有机质中腐殖质类物质的相对浓度与其腐殖化程度呈正比,第三个指标就基于该原理。
上述三个评价有机质腐殖化程度的指标,大部分时候评价出来的结果是一致的,但由于不同有机质的来源和结构差异较大,有时候不同指标评价出的结果也不一致。因此,需要基于上述三个指标建立一个新的综合评价指标,以解决上述评价结果不一致,对有机质腐殖化程度进行综合评价。
发明内容
本发明的目的在于提供一种有机质腐殖化程度的综合评价方法,通过投影寻踪模型,建立一个有机质腐殖化综合评价指标,以评价有机质腐殖质化水平。
为了实现上述目的,本发明提供的有机质腐殖化水平的综合评价方法,其主要步骤为:
A)采集样品,提取制备水溶性有机物,测定其有机碳含量(DOC);
B)进行三维荧光光谱测定,并计算有机质的腐殖化值;
C)腐殖化值的归一化处理;
D)建立投影寻踪模型;
E)模型求解;
F)有机质腐殖化水平的综合评价。
所述的综合评价方法,其中,步骤B中先调整样品0<DOC<10mg·L-1,然后进行三维荧光光谱测定和计算有机质的腐殖化值。
所述的综合评价方法,其中,步骤B中的测定和计算如下:
第一类指标A4/A1:固定激发波长254nm,扫描260-550nm范围内的发射光谱,计算发射光谱435-480nm与300-345nm范围内荧光积分面积的比值;
第二类腐殖化指标I347/280与I378/280:固定波长差为30nm扫描250-595nm范围内的同步荧光光谱,计算同步荧光光谱中347nm与280nm处的荧光强度比值I347/280,以及378nm与280nm处荧光强度比值I378/280;
第三类腐殖化指标A465:固定激发波长465nm,扫描490-595nm范围内的发射光谱,计算发射光谱中490-595nm范围内荧光积分面积。
要求所述的综合评价方法,其中,步骤C中腐殖化值的归一化处理公式是y′(i,j)=y(i,j)/ymax(j),
式中:y′(i,j)为第j类指标中第i个指标y(i,j)归一化后的值,ymax(j)为第j类指标中最大值。
所述的综合评价方法,其中,步骤D中投影寻踪模型的建立是:
建立目标函数:
Max:Q(a)=SzDz;
函数的约束条件为
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