[发明专利]一种有机质腐殖化水平的综合评价方法有效
| 申请号: | 201310060961.7 | 申请日: | 2013-02-27 |
| 公开(公告)号: | CN103163112A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
| 发明(设计)人: | 何小松;席北斗;李翔;潘红卫;李丹 | 申请(专利权)人: | 中国环境科学研究院 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
| 地址: | 100012 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 有机质 腐殖 水平 综合 评价 方法 | ||
1.一种有机质腐殖化水平的综合评价方法,其主要步骤为:
A)采集样品,提取制备水溶性有机物,测定其有机碳含量(DOC);
B)进行三维荧光光谱测定,并计算有机质的腐殖化值;
C)腐殖化值的归一化处理;
D)建立投影寻踪模型;
E)模型求解;
F)有机质腐殖化水平的综合评价。
2.根据权利要求1所述的综合评价方法,其中,步骤B中先调整样品0<DOC<10mg·L-1,然后进行三维荧光光谱测定和计算有机质的腐殖化值。
3.根据权利要求1或2所述的综合评价方法,其中,步骤B中的测定和计算如下:
第一类指标A4/A1:固定激发波长254nm,扫描260-550nm范围内的发射光谱,计算发射光谱435-480nm与300-345nm范围内荧光积分面积的比值;
第二类腐殖化指标I347/280与I378/280:固定波长差为30nm扫描250-595nm范围内的同步荧光光谱,计算同步荧光光谱中347nm与280nm处的荧光强度比值I347/280,以及378nm与280nm处荧光强度比值I378/280;
第三类腐殖化指标A465:固定激发波长465nm,扫描490-595nm范围内的发射光谱,计算发射光谱中490-595nm范围内荧光积分面积。
4.根据权利1要求所述的综合评价方法,其中,步骤C中腐殖化值的归一化处理公式是y′(i,j)=y(i,j)/ymax(j),
式中:y′(i,j)为第j类指标中第i个指标y(i,j)归一化后的值,ymax(j)为第j类指标中最大值。
5.根据权要求1所述的综合评价方法,其中,步骤D中投影寻踪模型的建立是:
建立目标函数:
Max:Q(a)=SzDz;
函数的约束条件为
式中:Sz为投影值z(i)的标准差;Dz为投影值z(i)的局部密度。
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