[发明专利]一种有机质腐殖化水平的综合评价方法有效

专利信息
申请号: 201310060961.7 申请日: 2013-02-27
公开(公告)号: CN103163112A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 何小松;席北斗;李翔;潘红卫;李丹 申请(专利权)人: 中国环境科学研究院
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周长兴
地址: 100012 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 有机质 腐殖 水平 综合 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种有机质腐殖化水平的综合评价方法,其主要步骤为:

A)采集样品,提取制备水溶性有机物,测定其有机碳含量(DOC);

B)进行三维荧光光谱测定,并计算有机质的腐殖化值;

C)腐殖化值的归一化处理;

D)建立投影寻踪模型;

E)模型求解;

F)有机质腐殖化水平的综合评价。

2.根据权利要求1所述的综合评价方法,其中,步骤B中先调整样品0<DOC<10mg·L-1,然后进行三维荧光光谱测定和计算有机质的腐殖化值。

3.根据权利要求1或2所述的综合评价方法,其中,步骤B中的测定和计算如下:

第一类指标A4/A1:固定激发波长254nm,扫描260-550nm范围内的发射光谱,计算发射光谱435-480nm与300-345nm范围内荧光积分面积的比值;

第二类腐殖化指标I347/280与I378/280:固定波长差为30nm扫描250-595nm范围内的同步荧光光谱,计算同步荧光光谱中347nm与280nm处的荧光强度比值I347/280,以及378nm与280nm处荧光强度比值I378/280

第三类腐殖化指标A465:固定激发波长465nm,扫描490-595nm范围内的发射光谱,计算发射光谱中490-595nm范围内荧光积分面积。

4.根据权利1要求所述的综合评价方法,其中,步骤C中腐殖化值的归一化处理公式是y′(i,j)=y(i,j)/ymax(j),

式中:y′(i,j)为第j类指标中第i个指标y(i,j)归一化后的值,ymax(j)为第j类指标中最大值。

5.根据权要求1所述的综合评价方法,其中,步骤D中投影寻踪模型的建立是:

建立目标函数:

Max:Q(a)=SzDz

函数的约束条件为

s.t.:Σj=1n[a(j)]2=1;]]>

式中:Sz为投影值z(i)的标准差;Dz为投影值z(i)的局部密度。

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