[发明专利]一种梯度折射率超常媒质透镜的制造方法

权利要求书

1.一种梯度折射率超常媒质透镜的制造方法，其特征是：它由以下步骤实现：

步骤一、设定欲制造的超常媒质透镜的折射率其中r为超常媒质透镜上任意一点距离中心轴的长度；

步骤二、将步骤一设定的折射率采用公式：

n(r)=4.005-6.3756+0.0264k2r∈(0.0065(k-0.5),0.0065(k+0.5)],k=1,2,...]]>

进行连续分布离散化处理，获得欲制造的超常媒质透镜折射率分布关系；式中：k为欲制造的超常媒质透镜上划分出的同心圆环的序号；

步骤三、采用等效介电常数和磁导率模型表征圆环上结构单元的电磁特性；

步骤四、在步骤二获得的欲制造的超常媒质透镜折射率分布关系和步骤三中获得的电磁特性下，根据公式：

ζ(r)=46.0118k(2.2-(4.005-6.3756+0.0264k2)2)r∈(0.0065(k-0.5),0.0065(k+0.5)],k=1,2,...]]>

获得各圆环上结构单元所对应圆心角ζ；

步骤五、根据步骤四获得的各圆环上结构单元对应圆心角ζ确定各圆环上的结构单元数量，即各圆环区域上开设通孔的密度；

步骤六、根据步骤五中各圆环上通孔密度得到整个透镜的通孔排布，获得透镜设计结果；

步骤七、根据步骤六获得的透镜设计结果进行制造。

2.根据权利要求1所述的一种梯度折射率超常媒质透镜的制造方法，其特征在于步骤三中所述的等效介电常数和磁导率模型为：

ϵeff=ϵd×Vd+ϵv×VvVd+Vv]]>

式中：ε_d表示介质板相对介电常数；ε_v表示空气的介电常数；V_d介质板的体积；V_v表示空气的体积。