[发明专利]计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法

权利要求书

1.一种计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

（1）系统获取SIM卡图像和参考模板；

（2）系统将所述的SIM卡图像转换为灰阶空间图像；

（3）系统选取所述的SIM卡图像中与所述的参考模板尺寸相同的区域为目标模板；

（4）系统对所述的目标模板和参考模板进行二值化处理，获得二值化处理结果；

（5）系统对所述的目标模板和参考模板进行KL距离计算，获得KL距离计算结果；

（6）系统根据所述的二值化处理结果和KL距离计算结果确定待检测的SIM卡区域；

（7）系统将所述的待检测的SIM卡区域与所述的参考模板进行相同的网格划分；

（8）系统将所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行匹配计算；

（9）系统根据所述的匹配计算结果标记所述的待检测的SIM卡区域内的SIM卡缺陷位置。

2.根据权利要求1所述的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的步骤（2）具体包括以下步骤：

（21）系统以所述的SIM卡图像的左上角的像素点为原点建立直角坐标系；

（22）系统将所述的直角坐标系内的像素点根据以下公式从RGB色彩空间图像转换为灰阶空间图像：

Y＝0.299×R+0.587×G+0.114×B。

3.根据权利要求1所述的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的二值化处理的二值化阈值采用OSTU方法确定。

4.根据权利要求1所述的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的对目标模板和参考模板进行KL距离计算，具体为：

系统利用以下公式计算目标模板和参考模板的KL距离KL(M||T)：

KL(M||T)=Σiln(M(i)T(i))M(i);]]>

其中，i为直方图中像素灰度值，M(i)为所述的目标模板中像素值为i概率分布，T(i)为所述的参考模板中像素值为i概率分布。

5.根据权利要求1所述的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的系统根据二值化处理结果和KL距离计算结果确定待检测的SIM卡区域，具体为：

系统判断所述的目标模板二值化处理结果和参考模板二值化处理结果只差是否小于预设的二值化阈值，且所述的KL距离计算结果是否小于预设的KL距离阈值，若均是，则确定目标模板为待检测的SIM卡区域。

6.根据权利要求5所述的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的预设的二值化阈值为5000，所述的KL距离阈值为0.4。

7.根据权利要求1所述的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的步骤（8）具体包括以下步骤：

（81）系统计算所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格间的平均梯度值

（82）系统判断所述的平均梯度值是否大于预设的阈值，若是，则进入步骤（83）；若否，则判断所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格匹配；

（83）系统对所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行匹配计算。