[发明专利]集成电路测试连接装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别是涉及一种集成电路测试连接装置和一种集成电路测试连接方法。

背景技术

集成电路（Integrated Circuit，IC）是一种微型电子器件，通过采用一定的工艺，把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时，一般是对电子产品的集成电路进行功能测试。对集成电路进行功能测试时，需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置。

针对一些需要客户设计集成电路的方案，不同的客户设计的集成电路的各个功能模块的排列和连接可能不同，则集成电路的走线就会不同，导致集成电路的各个功能引脚的输出顺序不同。对集成电路进行功能测试连接集成电路和测试装置时，如果集成电路的功能引脚输出顺序不同，需要针对每一种具有不同引脚输出顺序的集成电路设计专用的集成电路转接板。

但是，针对同一方案的集成电路，其引脚中功能引脚的类别和各自的数量是确定的，区别仅在于各个引脚的排列顺序可能不同。如果仅为了改变某几个引脚的排列顺序就重新设计一块集成电路转接板既浪费了材料又耗费人力，而且耗时较长、延长交期时间。

发明内容

基于此，有必要针对不同客户设计的同一方案的集成电路在进行功能测试时，引脚的输出顺序不同时需要设计不同的集成电路转接板造成浪费材料、延长交期时间的问题，提供一种针对同一方案的集成电路每次进行测试时不需重新设计集成电路转接板的集成电路测试连接装置。

同时，还提供一种集成电路测试连接方法。

一种集成电路测试连接装置，用于在对集成电路进行功能测试时连接所述集成电路和测试装置，包括：

集成电路转接板，具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；

桥接转板，具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接。

在其中一个实施例中，所述桥接转板为印刷电路板。

在其中一个实施例中，所述桥接转板的输出接口分别设有相应的信号通道标记。

在其中一个实施例中，所述集成电路转接板的转接口和数据输出接口分别设有相应的信号通道标记。

在其中一个实施例中，所述桥接转板通过双排插针直接连接所述集成电路转接板。

在其中一个实施例中，所述桥接转板通过单排插针连接跳线间接连接所述集成电路转接板。

在其中一个实施例中，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。

一种集成电路测试连接方法，包括如下步骤：

提供集成电路转接板，所述集成电路转接板具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；

获取待测试的集成电路引脚定义；

提供桥接转板，所述桥接转板具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接；

依次连接所述集成电路、桥接转板、集成电路转接以及测试装置。

在其中一个实施例中，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。

在其中一个实施例中，还包括在所述集成电路转接板的各个接口丝印对应各个接口的通道标记的步骤。

上述集成电路测试连接装置和集成电路测试连接方法，在同一方案的集成电路测试过程中通过使用转接口排列顺序固定的集成电路转接板，在集成电路功能测试过程中通过使用桥接转板将集成电路引脚的顺序与集成电路转接板转接口的排列顺序调整一致。集成电路转接板的转接口的顺序固定，通过桥接转板实现将同一方案的引脚的顺序不一致的集成电路的引脚调整一致，即集成电路转接板的转接口的顺序，实现了同一方案的集成电路进行测试时使用同一集成电路转接板。桥接转板设计简单、耗时短且成本低，避免了重新设计集成电路转接板造成的材料浪费和交期时间较长的问题。

附图说明

图1为本发明一实施例的集成电路测试连接装置模块图；

图2为调整触控集成电路引脚的顺序的示意图；

图3为本发明一实施例的集成电路测试连接方法流程图。

具体实施方式