[发明专利]集成电路测试连接装置和方法有效
| 申请号： | 201310048059.3 | 申请日： | 2013-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN103149388A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 杜润飞;关赛新;蔡荣军 | 申请（专利权）人： | 深圳欧菲光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 518106 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 连接 装置 方法 | ||
1.一种集成电路测试连接装置，用于在对集成电路进行功能测试时连接所述集成电路和测试装置，其特征在于，包括：
集成电路转接板，具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；
桥接转板，具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板为印刷电路板。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板的输出接口分别设有相应的信号通道标记。
4.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述集成电路转接板的转接口和数据输出接口分别设有相应的信号通道标记。
5.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板通过双排插针直接连接所述集成电路转接板。
6.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述桥接转板通过单排插针连接跳线间接连接所述集成电路转接板。
7.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。
8.一种集成电路测试连接方法，其特征在于，包括如下步骤：
提供集成电路转接板，所述集成电路转接板具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口；
获取待测试的集成电路引脚定义；
提供桥接转板，所述桥接转板具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口，所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接；
依次连接所述集成电路、桥接转板、集成电路转接以及测试装置。
9.根据权利要求8所述的集成电路测试连接方法，其特征在于，所述集成电路为触控集成电路，所述触控集成电路引脚包括感应通道引脚、驱动通道引脚和地线引脚。
10.根据权利要求8所述的集成电路测试连接方法，其特征在于，还包括在所述集成电路转接板的各个接口丝印对应各个接口的通道标记的步骤。
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