[发明专利]一种温度设备低温试验操作装置无效
申请号: | 201310041531.0 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103968866A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 施颖君 | 申请(专利权)人: | 电计科技研发(上海)有限公司 |
主分类号: | G01D11/00 | 分类号: | G01D11/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 赵志远 |
地址: | 200241 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 温度 设备 低温 试验 操作 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种温度设备的操作机构,尤其是涉及一种温度设备低温试验操作装置。
背景技术
现在有些低温操作试验,即在低温状态下,对试验样件做功能检查,但现有的低温设备都不带特定的操作孔,在设备低温运行下不能对样件进行操作。如果要强行打开设备门进行操作的话,设备运行温度会骤然上升,对设备的压缩机会造成损坏。另外,样件会发生结露现象,对样件的功能也会发生一定的破坏。
发明内容
本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种操作方便、安全性高的温度设备低温试验操作装置。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,该装置装在温度设备的开门内侧,所述的操作装置包括操作面板,该操作面板上设有操作孔。
所述的操作面板为防爆玻璃制成的面板。
所述的操作孔设有多个,并且每个操作孔上均设有盖板。
所述的操作孔为4个,呈两排设置。
所述的操作孔为圆形孔或椭圆形孔。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:
1、操作方便,通过操作孔可以在低温状态下对放置在设备中的样件进行功能检查等操作。
2、安全性高,采用防爆玻璃材质,能清楚的观察到试验样件的状态,不会因为强行打开设备门进行操作,而对设备和样件造成损坏。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为本发明安装在温度设备后的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。
实施例
如图1所示,一种温度设备低温试验操作装置,该装置装在温度设备2的开门内侧,所述的操作装置包括操作面板1,该操作面板1上设有操作孔11。
所述的操作面板1为防爆玻璃制成的面板。所述的操作孔设有4个,呈两排设置,并且每个操作孔上均设有盖板。所述的操作孔为圆形孔或椭圆形孔。
装置材料选择为防爆玻璃,温度范围必须超过-60℃~+180℃。操作板上有操作孔,工程师能在低温状态下对放置在设备中的样件进行功能检查等操作。
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