[发明专利]一种温度设备低温试验操作装置无效
申请号: | 201310041531.0 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103968866A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 施颖君 | 申请(专利权)人: | 电计科技研发(上海)有限公司 |
主分类号: | G01D11/00 | 分类号: | G01D11/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 赵志远 |
地址: | 200241 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 温度 设备 低温 试验 操作 装置 | ||
1.一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,该装置装在温度设备的开门内侧,所述的操作装置包括操作面板,该操作面板上设有操作孔。
2.根据权利要求1所述的一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,所述的操作面板为防爆玻璃制成的面板。
3.根据权利要求1所述的一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,所述的操作孔设有多个,并且每个操作孔上均设有盖板。
4.根据权利要求3所述的一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,所述的操作孔为4个,呈两排设置。
5.根据权利要求3所述的一种温度设备低温试验操作装置,其特征在于,所述的操作孔为圆形孔或椭圆形孔。
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