[发明专利]太赫兹目标散射特性测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及太赫兹的特性测试领域，尤其涉及一种太赫兹目标散射特性测试装置及测试方法。

背景技术

太赫兹波散射实验的研究对于研究太赫兹雷达目标特性，进而实现太赫兹雷达散射截面及散射成像的研究都具有重要的价值。近些年国内外围绕太赫兹波目标的透射和反射特性研究工作取得了多项研究成果，并带动了有关反射成像和透射成像的研究工作的开展，针对太赫兹波目标散射特性的研究工作国外已经取得了一些成果，国内有关太赫兹雷达目标散射特性的理论研究尽管也受到关注，但由于受到太赫兹雷达体系等因素的限制，实验研究工作起步较晚，还没有看到有关太赫兹目标散射特性实验的相关报道。

发明实用新型内容

本发明目的是提供一种太赫兹目标散射特性测试装置。

本发明另一目的是提供一种太赫兹目标散射特性测试方法。

本发明实施例提供一种太赫兹目标散射特性测试装置，其包括光学实验台，所述光学实验台上设置自动旋转光学平台、龙门架、运动控制器、太赫兹波源、透镜以及数据读取装置；所述龙门架横跨所述自动旋转光学平台，所述龙门架上设置水平的滑轨，所述滑轨上连接一立式自动旋转台，所述立式自动旋转台上设置被测物；所述自动旋转光学平台上设置探测器，所述透镜设置在所述太赫兹波源出射口，所述立式自动旋转台可调节方向，所述探测器设置在所述立式自动旋转台散射光射出的方向，所述探测器与所述数据读取装置电连接。

优选地，所述太赫兹波源为返波管振荡器源，所述探测器为焦热电探测器，

优选地，所述透镜为聚四氟乙烯透镜。

优选地，所述运动控制器包括CPU、液晶显示器以及操作键盘。

对上述技术方案的进一步改进为，所述龙门架的两侧架上设置有尺寸刻度。

优选地，所述自动旋转光学平台由细分步进电机驱动，其精度达到0.005r，转速为20r/S。

对上述技术方案的进一步改进为，所述立式自动旋转台通过一调节机构与所述滑轨连接，并采用涡轮蜗杆机构传动，所述调节机构下部连接立式自动旋转台。

对上述技术方案的进一步改进为，所述自动旋转光学平台上设置有用于固定光学部件的螺孔。

对上述技术方案的进一步改进为，所述太赫兹波源与所述透镜之间设置一斩波器。

用上述太赫兹目标散射特性测试装置测试太赫兹目标散射特性的方法，其包括：在所述立式自动旋转台上连接一金属或塑料盘，开启电源，太赫兹波源发出光束，出射到斩波器，经斩波器调制后，再经透镜变成平行光波后照射到金属或塑料盘上，在金属或塑料盘上形成光斑，通过运动控制器移动或转动龙门架，调整金属或塑料盘的法向与入射光法向的夹角以及探测器的空间方位，调整至探测器接收端口距铜盘中心的距离为140～160mm，从而探测器接收金属或塑料盘散射出的光信号，数据读取装置获取探测器的输出电压和频率；通过检测金属或塑料盘在不同入射角度以及不同散射角度时的输出电压值，对比分析太赫兹目标散射特性。

优选地，上述试验环境温度为20～24℃，湿度为30%～32%。

本发明太赫兹目标散射特性测试装置，有益效果是：

巧妙地利用输出稳定的太赫兹波源，并配以能够准确提供精确角度的旋转光学平台，使目标距离探测器较近的区域内的测试工作得以完成，从而通过对金属或塑料盘的散射试验，完成对太赫兹目标散射特性的测试分析，本装置简便、易安装、成本低。测试方法简便易行，数据误差小。

附图说明

附图1为本发明太赫兹目标散射特性测试装置结构示意图；

附图2为本发明太赫兹目标散射特性测试装置中自动旋转光学平台结构示意图；

附图3为本发明太赫兹目标散射特性测试装置中运动控制器的结构示意图；

附图4为垂直入射时细铜板散射实验曲线；

附图5为斜入射时粗、细铜板合成散射实验曲线。

其中：

1、光学实验台2、自动旋转光学平台 3、龙门架

4、运动控制器5、太赫兹波源 6、透镜

7、数据读取装置8、滑轨 9、立式自动旋转台

10、探测器 11、电源12、液晶显示器

13、操作键盘 15、调节机构

17、螺孔 18、斩波器19、铜盘

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。

实施例1：