[发明专利]太赫兹目标散射特性测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种太赫兹目标散射特性测试装置，其特征在于：

包括光学实验台(1)，所述光学实验台(1)上设置自动旋转光学平台(2)、龙门架(3)、运动控制器(4)、太赫兹波源(5)、透镜(6)以及数据读取装置(7)；

所述龙门架(3)横跨所述自动旋转光学平台(2)，所述龙门架(3)的两侧架上设置有尺寸刻度，所述龙门架(3)上设置水平的滑轨(8)，所述滑轨(8)上连接一立式自动旋转台(9)，所述立式自动旋转台(9)上设置被测物；

所述自动旋转光学平台(2)上设置探测器(10)，所述透镜(6)设置在所述太赫兹波源(5)出射口，所述立式自动旋转台(9)可调节方向，所述探测器(10)设置在所述立式自动旋转台(9)散射光射出的方向，所述探测器(10)与所述数据读取装置(7)电连接；

所述立式自动旋转台(9)通过一调节机构(15)与所述滑轨(8)连接，并采用涡轮蜗杆机构传动，所述调节机构(15)下部连接立式自动旋转台(9)。

2.如权利要求1所述太赫兹目标散射特性测试装置，其特征在于：

所述太赫兹波源(5)为返波管振荡器源，所述探测器(10)为焦热电探测器，所述透镜(6)为聚四氟乙烯透镜。

3.如权利要求1所述太赫兹目标散射特性测试装置，其特征在于：

所述运动控制器(4)包括CPU、液晶显示器(12)以及操作键盘(13)。

4.如权利要求1所述太赫兹目标散射特性测试装置，其特征在于：

所述自动旋转光学平台(2)由细分步进电机驱动，其精度达到0.005r，转速为20r/S。

5.如权利要求1所述太赫兹目标散射特性测试装置，其特征在于：

所述自动旋转光学平台(2)上设置有用于固定光学部件的螺孔(17)。

6.如权利要求1所述太赫兹目标散射特性测试装置，其特征在于：

所述太赫兹波源(5)与所述透镜(6)之间设置一斩波器(18)。

7.一种用权利要求1～6任一项所述太赫兹目标散射特性测试装置测试太赫兹目标散射特性的方法，其特征在于：

在所述立式自动旋转台(9)上连接金属或塑料盘，开启电源，太赫兹波源(5)发出光束，出射到斩波器(18)，经斩波器(18)调制后，再经透镜(6)变成平行光波后照射到金属或塑料盘上，在金属或塑料盘上形成光斑，通过运动控制器(4)移动或转动龙门架(3)，调整金属或塑料盘的法向与入射光法向的夹角以及探测器(10)的空间方位，调整至探测器(10)接收端口距金属或塑料盘中心的距离为140～160mm，从而探测器(10)接收金属或塑料盘散射出的光信号，数据读取装置(7)获取探测器(10)的输出电压和频率；

通过检测金属盘或塑料盘在不同入射角度以及不同散射角度时的输出电压值，对比分析太赫兹目标散射特性。

8.如权利要求7所述一种测试太赫兹目标散射特性的方法，其特征在于：试验环境温度为20～24℃，湿度为30％～32％。