[发明专利]存储器测试系统以及存储器测试方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试系统以及测试方法，且特别是有关于一种存储器测试系统以及存储器测试方法。

背景技术

技术的进步开启了高速计算机系统。由于完善地研究和开发的电子设备，如微处理器和存储器，对于计算机系统操作在高速环境中仍保持良好的性能是可能的。然而，在高速环境下的电子设备之间的互连变得非常敏感，如I/O接口和存储器，所以需要做谨慎的测试和调整。

为了验证高速的I/O接口和存储器，像是电压和时序的各种参数，应该在不同的条件下测量。通过这样的做法，可以完美地研究计算机系统而作调整，以满足高速系统所要求的性能。然而，传统用于测试I/O接口和存储器的测试工具测试是昂贵且不便的。因此，对于本领域技术人员而言，无需使用外部测试工具来开发测试系统和测试方法，仍然是一个重要的课题。

发明内容

本发明是针对一种存储器测试系统和存储器测试方法，且存储器测试系统能够在高速环境中测试存储器。

本发明的一示范性实施例提供一种用于测试存储单元的存储器测试系统，其包括控制单元、数据读取通道、数据写入通道、传送单元、接收单元以及回传通道，其中传送单元、接收单元以及回传通道被称作为测试通道。回传通道包含第一垫、传送通道以及第二垫。回传通道实际上连接传送单元和接收单元。存储单元、控制单元、数据读取通道、数据写入通道、传送单元和接收单元皆需要进行测试。控制单元根据外部指令产生且输出第一读取指令和第一写入指令。数据读取通道耦接至存储单元，而控制单元根据第一读取指令从存储单元读取数据。数据写入通道耦接至存储单元，而控制单元根据第一写入指令写入数据至存储单元。测试通道耦接至数据读取通道和数据写入通道，且测试通道具有输入端和输出端。输入端从数据读取通道接收数据，且输出端将数据传回至数据写入通道。在一延迟时间之后，数据写入通道接收到数据。每当通过控制单元接收到外部指令时，产生第一读取指令与第一写入指令，且分别地输出至数据读取通道与数据写入通道。数据读取通道在第一时刻接收第一读取指令而早于数据写入通道在第二时刻接收第一写入指令。第一时刻与第二时刻之间的时间间隔等于时间延迟，且时间间隔包括通过控制单元的第一写入指令的产生时间和可编程偏移时间。

在本发明的一示范性实施例中，通过控制单元调整可编程偏移时间，使得时间间隔实质上等于时间延迟。

在本发明的一示范性实施例中，当通过数据读取通道从存储单元读取数据、输出数据到测试通道的输入端并将数据传回至数据写入通道时呈现时间延迟。

在本发明的一示范性实施例中，数据读取通道包括至少一多路复用器，而多路复用器根据第一读取指令选择存储单元的存储库来读取数据。

在本发明的一示范性实施例中，数据写入通道包括至少一多路复用器，而多路复用器根据第一写入指令选择存储单元的存储库来写入数据。

在本发明的一示范性实施例中，存储单元包括至少一存储器阵列，读取和写入数据至所述至少一存储器阵列的相同存储库或是不同存储库。

在本发明的一示范性实施例中，读取和写入数据至少一存储器阵列的相同行地址或是不同行地址。

在本发明的一示范性实施例中，测试通道包括第一垫、第二垫以及传送通道，第一垫耦接至输入端，第二垫耦接至输出端，并且传送通道耦接于第一垫与第二垫之间，通过传送通道从第一垫传送数据至第二垫。

在本发明的一示范性实施例中，测试通道还包括接收单元以及传送单元。传送单元耦接于输入端与第一垫之间，传送单元用于从数据读取通道接收数据且传送数据至第一垫，其中第一垫通过传送单元耦接至输入端。接收单元耦接于第二垫与输出端之间，接收单元用于从第二垫接收数据且传送数据至数据写入通道，并且第二垫通过接收单元耦接至输出端。

在本发明的一示范性实施例中，外部指令为外部写入指令、外部读取指令、或外部写入和读取指令。

在本发明的一示范性实施例中，外部指令工作在第一频率，数据读取通道与数据写入通道工作在第二频率，且测试通道工作在第三频率。

本发明的另一示范性实施例提供了一种适用于控制单元的存储器测试方法。存储器测试方法包括下列步骤。根据外部指令产生第一读取指令和第一写入指令。输出第一读取指令至数据读取通道，以便在第一时刻从存储单元读取数据。通过数据读取通道传送数据至测试通道的输入端。在一时间延迟之后，通过数据写入通道从测试通道的输出端接收数据，并且在第二时刻将第一写入指令输出至数据写入通道，以写入数据至存储单元。第一时刻与第二时刻之间的时间间隔等于时间延迟，且时间间隔包括第一写入指令的产生时间和可编程偏移时间。