[发明专利]存储器测试系统以及存储器测试方法

权利要求书

1.一种存储器测试系统，用于测试一存储单元，其特征在于，该存储器测试系统包括：

一控制单元，根据一外部指令产生并输出一第一读取指令和一第一写入指令；

一数据读取通道，耦接至该存储单元和该控制单元，并根据该第一读取指令从该存储单元读取数据；

一数据写入通道，耦接至该存储单元和该控制单元，并根据该第一写入指令将数据写入至该存储单元；以及

一测试通道，耦接至该数据读取通道和该数据写入通道，且该测试通道具有一输入端和一输出端，其中该输入端从该数据读取通道接收数据，且该输出端将数据传回至该数据写入通道，在一延迟时间之后该数据写入通道接收到数据；

其中，每当通过该控制单元接收到该外部指令时，产生该第一读取指令与该第一写入指令，且分别地输出至该数据读取通道与该数据写入通道，该数据读取通道在该第一时刻接收该第一读取指令而早于该数据写入通道在该第二时刻接收该第一写入指令，该第一时刻与该第二时刻之间的一时间间隔等于该时间延迟，且该时间间隔包括通过该控制单元的该第一写入指令的一产生时间和一可编程偏移时间。

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，通过该控制单元调整该可编程偏移时间，使得该时间间隔等于该时间延迟。

3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，当通过该数据读取通道从该存储单元读取数据、输出数据到该测试通道的该输入端并将数据传回至该数据写入通道时呈现该时间延迟。

4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，该数据读取通道包括：

至少一多路复用器，根据该第一读取指令选择该存储单元的存储库来读取数据。

5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，该数据写入通道包括：

至少一多路复用器，根据该第一写入指令选择该存储单元的存储库来写入数据。

6.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，该存储单元包括至少一存储器阵列，读取和写入数据至该至少一存储器阵列的相同存储库或是不同存储库。

7.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，读取和写入数据至该至少一存储器阵列的相同行地址或是不同行地址。

8.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，该测试通道包括一第一垫、一第二垫以及一传送通道，该第一垫耦接至该输入端，该第二垫耦接至该输出端，并且该传送通道耦接于该第一垫与该第二垫之间，通过该传送通道从该第一垫传送数据至该第二垫。

9.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其特征在于，该测试通道还包括：

一传送单元，耦接于该输入端与该第一垫之间，该传送单元用于从该数据读取通道接收数据且传送数据至该第一垫，其中该第一垫通过该传送单元耦接至该输入端；以及

一接收单元，耦接于该第二垫与该输出端之间，该接收单元用于从该第二垫接收数据且传送数据至该数据写入通道，其中该第二垫通过该接收单元耦接至该输出端。

10.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，该外部指令为一外部写入指令、一外部读取指令、或一外部写入和读取指令。

11.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，该外部指令工作在一第一频率，该数据读取通道与该数据写入通道工作在一第二频率，且该测试通道工作在一第三频率。

12.一种存储器测试方法，适用于一控制单元，其特征在于，该存储器测试方法包括：

根据一外部指令产生一第一读取指令和一第一写入指令；

输出该第一读取指令至一数据读取通道，以便在一第一时刻从一存储单元读取数据；

通过该数据读取通道传送数据至一测试通道的一输入端；以及

在一时间延迟之后，通过一数据写入通道从该测试通道的一输出端接收数据，并且在一第二时刻将该第一写入指令输出至该数据写入通道，以写入数据至该存储单元；

其中，该第一时刻与该第二时刻之间的一时间间隔等于该时间延迟，且该时间间隔包括该第一写入指令的一产生时间和一可编程偏移时间。

13.根据权利要求12所述的存储器测试方法，其特征在于，还包括：

调整该可编程偏移时间，使得该时间间隔等于该时间延迟。