[发明专利]Nd‑Fe‑B磁性材料定量分析用标准样品及XRF分析方法有效

专利信息
申请号: 201310017897.4 申请日: 2013-01-17
公开(公告)号: CN103940642B 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 田旭玲;李勇;严长江 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N23/223
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司31266 代理人: 马莉华,祝莲君
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: nd fe 磁性材料 定量 分析 标准 样品 xrf 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及Nd-Fe-B磁性材料的定量分析,具体涉及标准样品及制备方法,以及利用该标准样品建立的对Nd-Fe-B磁性材料的快速定量分析方法。

背景技术

钕铁硼(Nd-Fe-B)磁性材料出现于20世纪80年代,属第三代稀土永磁材料,具有体积小、重量轻和磁性强的特点,是迄今为止性价比最佳的磁体,因此被广泛应用于音响、手机、照相机、计算机,汽车、医疗仪器、机电设备、磁悬浮列车、航空航天等各个领域。

目前,主要采用ICP-OES对Nd-Fe-B磁性材料的成分进行定量分析,但前处理相对复杂,测试周期长,且部分元素谱线之间有干扰。近几年也有一些文献研究消除这些谱线干扰的方法,其中除了用到基体匹配外,还用到MSF谱线校正及ICP-MS来测定其中的部分元素含量,但因Nd-Fe-B磁性材料中大部分元素的含量较高,用ICP-MS稀释倍数过高,所以并不理想。因此,急需一种快速、高效、准确的分析测试手段来弥补或代替原来前处理繁琐、测试周期长的化学分析方法。

X射线荧光光谱仪(XRF)具有定量分析速度快,无损检测且谱线干扰相对较少的优点,可进行常量和微量成分分析,特别是对化学分析很难分析的稀土元素具有得天独厚的优势。随着新材料的不断推陈出新,建立相应的XRF定量分析方法,以取代传统化学分析较困难繁复的分析过程,既环保又节约成本,具有非常重要的意义。但是,因缺乏标准样品,XRF在很多领域无法发挥其特长。

目前,国内尚无XRF定量分析Nd-Fe-B磁性材料的标准分析方法和标准样品,国际上也几乎没有标准方法和标样。相关文献极少,北京有色金属研究总院测试所张淑英完成的项目“XRF分析Nd-Fe-B磁性材料的成分-溶液-粉末压片法”,自制一套参考标样,建立了Nd-Fe-B合金常见主量和痕量杂质元素的快速分析方法。但其操作过程相当繁琐,劳动强度大,要经过溶解-加入滤纸 蒸干-马弗炉烧结-碾磨-压片等一系列程序,且被测样品也需要经过与标样制备相同的复杂程序,即使标准样品已经制备好,测试一个未知样品也需要近一天的时间,使XRF快速分析的优势没有得到发挥。

因此,本领域急需一种新型的标准样品,完全能发挥出XRF快速、高效、准确的定量优势。

发明内容

本发明的目的在于提供一种新型的Nd-Fe-B磁性材料的XRF定量分析标准样品和快速的定量分析方法。

本发明的第一方面,提供一种标准样品,所述标准样品的本体包含Nd、Fe、和B,并且以标准样品的本体的总重量计,Nd的含量为a,B的含量为b,余量为Fe,其中,0<a≤60wt%;0<b≤2wt%;

任选地,所述标准样品中还包含含量如下的一种或多种组分:

在另一优选例,所述标准样品还包括标准样品的本体外的防氧化层。

在另一优选例,所述防氧化层包覆在所述本体的外周,露出待测面或完全包覆所述本体。

在另一优选例中,所述防氧化层为胶木粉防氧化层、电玉粉防氧化层或其他镶嵌料构成的防氧化层。

在另一优选例中,所述防氧化层为环氧树脂膜层。

在另一优选例中,所述环氧树脂膜层的厚度为1-10微米。

本发明的第二方面,提供第一方面所述的标准样品的制备方法,所述方法包括以下步骤:

(a)制备金属锭:提供金属混合物,所述金属混合物包含Nd、Fe、和B,以及任选地La、Ce、Pr、Gd、Ho、Dy、Tb、Al、Co、Cu、Nb、Zr、Ga中的一种或多种,将所述金属混合物制备成金属锭;

(b)切割:将步骤(a)获得的金属锭进行切割,得到样品锭;

(c)清洗:将步骤(b)获得的样品锭进行清洗,得到以所述样品锭作为本体的第一方面所述的标准样品。

在另一优选例中,步骤(c)中采用有机溶剂进行清洗,较佳地,所述有机溶剂选自C4-12脂肪烃、C4-12环烃。

在另一优选例中,所述步骤(c)中还可采用乙醇或丙酮进行进一步超声清洗。

在另一优选例中,所述步骤(a)中在惰性气氛下进行称量金属或合金以提供金属混合物,所述惰性气氛选自:氩气、氮气、氦气。

在另一优选例中,所述步骤(a)中在惰性气氛下将金属混合物进行熔炼制备成金属锭,熔炼次数为1-10次。

在另一优选例中,将步骤(c)的标准样品的本体真空封装放入手套箱中保存。

在另一优选例中,所述方法还包括以下步骤:

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