[发明专利]一种确定工作台回转中心坐标的方法无效
申请号: | 201310013384.6 | 申请日: | 2013-01-15 |
公开(公告)号: | CN103128634A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 史耀耀;张军锋;辛红敏;赵涛;俞涛;李婕 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | B24B21/10 | 分类号: | B24B21/10 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 陈星 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 工作台 回转 中心 标的 方法 | ||
1.一种确定工作台回转中心坐标的方法,其特征在于:采用以下步骤:
步骤1:加工一个长度≥100mm,宽度≥50mm,高度≥50mm的长方体,对长方体底面和一个侧面进行平面磨,使得两个面的平面度≤0.01μm,底面和侧面的垂直度≤0.012μm;
步骤2:将长方体固定在回转工作台上,将回转工作台绕其回转中心旋转,使长方体平面磨后的侧面与加工坐标系中的Y轴平行;所述加工坐标系中的XY平面与回转工作台平面平行,Z轴方向垂直于回转工作台平面,X轴方向与砂带抛光机构中接触轮的轴线方向平行;
步骤3:移动砂带抛光机构,使接触轮一侧端面与长方体平面磨后的侧面接触,得到此时接触轮与长方体接触的端面在加工坐标系中的X轴坐标X1;
步骤4:将回转工作台绕其回转中心旋转180°,移动砂带抛光机构,使接触轮另一侧端面与长方体平面磨后的侧面接触,且接触缝隙与步骤3中的接触缝隙厚度相同,得到此时接触轮与长方体接触的端面在加工坐标系中的X轴坐标X2;
步骤5:将回转工作台绕其回转中心继续旋转90°,移动砂带抛光机构,使接触轮圆周面与长方体平面磨后的侧面接触,得到此时接触轮与长方体接触位置在加工坐标系中的Y轴坐标Y1;
步骤6:将回转工作台绕其回转中心继续旋转180°,移动砂带抛光机构,使接触轮圆周面与长方体平面磨后的侧面接触,且接触缝隙与步骤5中的接触缝隙厚度相同,得到此时接触轮与长方体接触位置在加工坐标系中的Y轴坐标Y2;
步骤7:得到工作台回转中心坐标为((X1+X2)2,(Y1+Y2)2)。
2.根据权利要求1所述一种确定工作台回转中心坐标的方法,其特征在于:步骤2中,采用百分表与长方体平面磨后的侧面接触,且百分表单独固定,不随回转工作台移动或转动;将回转工作台绕其回转中心旋转,然后将回转工作台沿加工坐标系Y轴移动,当移动过程中百分表指针数值不变时,表示长方体平面磨后的侧面与Y轴平行,否则继续将回转工作台绕其回转中心旋转,直至长方体平面磨后的侧面与Y轴平行。
3.根据权利要求1或2所述一种确定工作台回转中心坐标的方法,其特征在于:在步骤3中的接触缝隙内插入厚度为h的塞尺,在步骤4中的接触缝隙内也插入厚度为h的塞尺,实现步骤4中的接触缝隙与步骤3中的接触缝隙厚度相同;在步骤5中的接触缝隙内插入厚度为s的塞尺,在步骤6中的接触缝隙内也插入厚度为s的塞尺,实现步骤6中的接触缝隙与步骤5中的接触缝隙厚度相同。
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