[发明专利]干涉滤波器、光学模块以及电子设备有效
申请号: | 201310012209.5 | 申请日: | 2013-01-11 |
公开(公告)号: | CN103217732B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 新东晋;北原浩司;松下友纪 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G02B5/28 | 分类号: | G02B5/28;G01N21/25;G01J3/28 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 余刚,吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 干涉 滤波器 光学 模块 以及 电子设备 | ||
1.一种干涉滤波器,其特征在于,所述干涉滤波器具备隔着间隙相互面对的两个反射膜,其中,
所述反射膜包括:含有银Ag、钐Sm以及铜Cu的Ag-Sm-Cu合金膜,
按原子数计,所述Ag-Sm-Cu合金膜含有0.1%以上0.5%以下的Sm,含有0.1%以上0.5%以下的Cu,且Sm以及Cu的合计为1.0%以下,
所述Ag-Sm-Cu合金膜的厚度为10nm以上且小于30nm,
所述反射膜为所述Ag-Sm-Cu合金膜的单层膜。
2.一种干涉滤波器,其特征在于,所述干涉滤波器具备隔着间隙相互面对的两个反射膜,其中,
所述反射膜包括:含有银Ag、铋Bi以及钕Nd的Ag-Bi-Nd合金膜,
按原子数计,所述Ag-Bi-Nd合金膜含有0.1%以上3.0%以下的Bi,且含有0.1%以上5.0%以下的Nd,
所述Ag-Bi-Nd合金膜的厚度为10nm以上且小于30nm,
所述反射膜为所述Ag-Bi-Nd合金膜的单层膜。
3.一种光学模块,其特征在于,所述光学模块具备:
两个反射膜,隔着间隙相互面对;以及
检测部,检测透过了所述反射膜的光的光量,
所述反射膜包括:含有银Ag、钐Sm以及铜Cu的Ag-Sm-Cu合金膜,
按原子数计,所述Ag-Sm-Cu合金膜含有0.1%以上0.5%以下的Sm,含有0.1%以上0.5%以下的Cu,且Sm以及Cu的合计为1.0%以下,
所述Ag-Sm-Cu合金膜的厚度为10nm以上且小于30nm,
所述反射膜为所述Ag-Sm-Cu合金膜的单层膜。
4.一种光学模块,其特征在于,所述光学模块具备:
两个反射膜,隔着间隙相互面对;以及
检测部,检测透过了所述反射膜的光的光量,
其中,所述反射膜包括:含有银Ag、铋Bi以及钕Nd的Ag-Bi-Nd合金膜,
按原子数计,所述Ag-Bi-Nd合金膜含有0.1%以上3.0%以下的Bi,且含有0.1%以上5.0%以下的Nd,
所述Ag-Bi-Nd合金膜的厚度为10nm以上且小于30nm,
所述反射膜为所述Ag-Bi-Nd合金膜的单层膜。
5.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备具有:
两个反射膜,隔着间隙相互面对;
检测部,检测透过了所述反射膜的光的光量;以及
处理部,基于在所述检测部检测到的光的光量,实施分析处理,
其中,所述反射膜包括:含有银Ag、钐Sm以及铜Cu的Ag-Sm-Cu合金膜,
按原子数计,所述Ag-Sm-Cu合金膜含有0.1%以上0.5%以下的Sm,含有0.1%以上0.5%以下的Cu,且Sm以及Cu的合计为1.0%以下,
所述Ag-Sm-Cu合金膜的厚度为10nm以上且小于30nm,
所述反射膜为所述Ag-Sm-Cu合金膜的单层膜。
6.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备具有:
两个反射膜,隔着间隙相互面对;
检测部,检测透过了所述反射膜的光的光量;以及
处理部,基于在所述检测部检测到的光的光量,实施分析处理,
其中,所述反射膜包括:含有银Ag、铋Bi以及钕Nd的Ag-Bi-Nd合金膜,
按原子数计,所述Ag-Bi-Nd合金膜含有0.1%以上3.0%以下的Bi,且含有0.1%以上5.0%以下的Nd,
所述Ag-Bi-Nd合金膜的厚度为10nm以上且小于30nm,
所述反射膜为所述Ag-Bi-Nd合金膜的单层膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310012209.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。