[发明专利]薄膜晶体管、数组基板及显示装置有效
申请号: | 201310008680.7 | 申请日: | 2013-01-04 |
公开(公告)号: | CN103681871A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 叶佳俊;蔡学宏;林柏辛 | 申请(专利权)人: | 元太科技工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L27/12 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 数组 显示装置 | ||
技术领域
本发明是有关于一种晶体管,特别是有关于一种应用于显示面板的薄膜晶体管。
背景技术
薄膜晶体管的构造依其各层结构的配置方式大致可区分为交错型(staggered)与共平面型(coplanar)。交错型的薄膜晶体管是在栅极层(或其绝缘层)与源/漏极层之间配置半导体层。共平面型的薄膜晶体管是在栅极层(或其绝缘层)与主动层之间配置源/漏极层。另外,根据源/漏极层的配置方式,薄膜晶体管的结构大致可区分为两侧源/漏极接触孔形式或者是岛状形式的源/漏极结构。
在薄膜晶体管的制作过程中,其主动层易受许多蚀刻液的损伤,因此在元件制作上,多以蚀刻阻挡层(etch stop layer,ESL)结构做为半导体上层蚀刻时的防护。就岛状形式的蚀刻阻挡层防护而言,其本身蚀刻时也会造成主动层受到影响。因此,为了降低主动层受影响的程度,目前发展出利用主动层上方两侧的接触孔与源/漏极层相接触的蚀刻阻挡层防护方式。但是由于此结构的源/漏极层与主动层的接触面积缩小,其结果将使得元件特性降低。因此,若能提升主动层的载流子迁移率,将可有效元件特性。
由此可见,上述现有的薄膜晶体管在结构与使用上,显然仍存在有不便与缺陷,而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种薄膜晶体管,其主动层具有高载流子迁移率。
本发明的另一个目的在于提供一种数组基板,配置于其上的薄膜晶体管的主动层具有高载流子迁移率。
本发明的再一个目的在于提供一种显示装置,配置于其数组基板上的薄膜晶体管的主动层具有高载流子迁移率。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。本发明一种薄膜晶体管,适于设置于基板上。所述薄膜晶体管包括栅极层、绝缘层、载流子传输层、保护层、第一源/漏极层以及第二源/漏极层。栅极层配置于基板上。绝缘层配置于栅极层上。载流子传输层配置于绝缘层上。载流子传输层包括主动层以及迁移率增进层。保护层配置于主动层上。第一源/漏极层配置于主动层上。第二源/漏极层配置于主动层上。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该迁移率增进层包括一第一元素。主动层包括第二元素。第一元素的电负度小于第二元素的电负度,以提高主动层的载流子迁移率。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该迁移率增进层配置于主动层上。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该第一源/漏极层及第二源/漏极层配置于保护层上。第一源/漏极层及第二源/漏极层各自经由位于保护层的接触孔与主动层连接。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该第一源/漏极层及第二源/漏极层配置于绝缘层上。第一源/漏极层及第二源/漏极层与主动层及绝缘层连接。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该主动层配置于迁移率增进层上。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该迁移率增进层包括第一元素,且第一元素的电负度小于或等于1.81。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该第一元素是选自钙。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该主动层的材料包括金属氧化物半导体。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该主动层包括第二元素,且第二元素为氧元素。
较佳的,前述的薄膜晶体管,其中该金属氧化物半导体包括氧化铟锌、氧化锌、掺铝氧化锌、氧化铟镓锌或其组合。
本发明的目的及解决其技术问题另采用以下技术方案来实现的。本发明一种数组基板,包括基板以及多个薄膜晶体管。各该薄膜晶体管,设置于所述基板上。各该薄膜晶体管包括:栅极层,配置于该基板上;绝缘层,配置于该栅极层上;载流子传输层,配置于该绝缘层上,并且包括主动层以及迁移率增进层;保护层,配置于该主动层上;第一源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层;以及第二源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
较佳的,前述的数组基板,其中该迁移率增进层包括第一元素,该主动层包括第二元素,该第一元素的电负度小于该第二元素的电负度,以提高该主动层的载流子迁移率。
较佳的,前述的数组基板,其中该迁移率增进层包括第一元素,该第一元素的电负度小于或等于1.81。
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