[发明专利]薄膜晶体管、数组基板及显示装置有效
申请号: | 201310008680.7 | 申请日: | 2013-01-04 |
公开(公告)号: | CN103681871A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 叶佳俊;蔡学宏;林柏辛 | 申请(专利权)人: | 元太科技工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L27/12 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 数组 显示装置 | ||
1.一种薄膜晶体管,适于设置于基板上,其特征在于,其包括:
栅极层,配置于该基板上;
绝缘层,配置于该栅极层上;
载流子传输层,配置于该绝缘层上,并且包括主动层以及迁移率增进层;
保护层,配置于该主动层上;
第一源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层;以及
第二源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该迁移率增进层包括第一元素,该主动层包括第二元素,该第一元素的电负度小于该第二元素的电负度,以提高该主动层的载流子迁移率。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该迁移率增进层配置于该主动层上。
4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该第一源/漏极层及该二源/漏极层配置于该保护层上,并且各自经由位于该保护层的接触孔与该主动层连接。
5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该第一源/漏极层及该二源/漏极层配置于该绝缘层上,并且与该主动层及该绝缘层连接。
6.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该主动层配置于该迁移率增进层上。
7.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该迁移率增进层包括第一元素,该第一元素的电负度小于或等于1.81。
8.根据权利要求7所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该迁移率增进层的该第一元素是选自钙。
9.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该主动层的材料包括金属氧化物半导体。
10.根据权利要求9所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该主动层包括第二元素,该第二元素为氧元素。
11.根据权利要求9所述的薄膜晶体管,其特征在于,其中该金属氧化物半导体包括氧化铟锌、氧化锌、掺铝氧化锌、氧化铟镓锌或其组合。
12.一种数组基板,其特征在于,其包括:
基板;以及
多个薄膜晶体管,设置于该基板上,各该薄膜晶体管包括:
栅极层,配置于该基板上;
绝缘层,配置于该栅极层上;
载流子传输层,配置于该绝缘层上,并且包括主动层以及迁移率增进层;
保护层,配置于该主动层上;
第一源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层;以及
第二源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层。
13.根据权利要求12所述的数组基板,其特征在于,其中该迁移率增进层包括第一元素,该主动层包括第二元素,该第一元素的电负度小于该第二元素的电负度,以提高该主动层的载流子迁移率。
14.根据权利要求12所述的数组基板,其特征在于,其中该迁移率增进层包括第一元素,该第一元素的电负度小于或等于1.81。
15.一种显示装置,其特征在于,其包括:
数组基板,具有基板及多个薄膜晶体管,其中该些薄膜晶体管设置于该基板上,且各该薄膜晶体管包括:
栅极层,配置于该数组基板上;
绝缘层,配置于该栅极层上;
载流子传输层,配置于该绝缘层上,并且包括主动层以及迁移率增进层;
保护层,配置于该主动层上;
第一源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层;以及
第二源/漏极层,配置于该主动层上,并且连接该主动层;
对向基板,相对该数组基板设置;以及
显示层,设置于该数组基板与该对向基板之间。
16.根据权利要求15所述的显示装置,其特征在于,其中该迁移率增进层包括第一元素,该主动层包括第二元素,该第一元素的电负度小于该第二元素的电负度,以提高该主动层的载流子迁移率。
17.根据权利要求15所述的显示装置,其特征在于,其中该迁移率增进层包括第一元素,该第一元素的电负度小于或等于1.81。
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