[发明专利]质量分析装置和质量校正方法

权利要求书

1.一种质量分析装置，其特征在于，能够进行MSⁿ(此处n是2以上的整数)分析，具备：离子解离部，其使源自试料中的化合物的离子解离；质量分析部，其对由该解离操作而生成的离子进行质量分析，

该质量分析装置具备：

a)分析控制部，其使所述离子解离部工作，以便进行以在不对离子进行解离操作而获得的MS¹质谱图中被观测到的具有已知质荷比的峰留在MSⁿ质谱图中的方式调整了解离条件的解离操作；

b)质谱图制作部，其基于在所述分析控制部的控制下实施由所述离子解离部的解离操作时所获得的质谱数据，制作MSⁿ质谱图；以及

c)质量校正部，其在由所述质谱图制作部制作的MSⁿ质谱图中检测出具有所述已知的质荷比的峰，并利用该峰的质荷比的实测值和已知的质荷比值之间的差，校正所述MSⁿ质谱图中的各峰的质荷比

2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，具有所述已知的质荷比的峰是用于MSⁿ分析的母离子的峰，或是元素组成与该母离子相同且包含稳定同位素以外的元素的同位素离子的峰。

3.根据权利要求2所述的质量分析装置，其特征在于，

所述质谱图制作部积算由多次MSⁿ分析而分别获得的质谱数据，来制作MSⁿ质谱图，

所述分析控制部在对同一试料的多次MSⁿ分析中，至少一次实施不使母离子解离的质量分析，或是实施伴随着如下解离操作的质量分析，即在该解离操作中，将为了使离子解离而赋予母离子的能量下降至设想母离子会充分留在MSⁿ质谱图中的值。

4.一种质量分析装置，其特征在于，能够进行MSⁿ(此处n是2以上的整数)分析，具备：离子解离部，其使源自试料中的化合物的离子解离；质量分析部，其对由该解离操作而生成的离子进行质量分析，

该质量分析装置具备：

a)离子加算部，其在所述质量分析部对由所述离子解离部的解离操作而生成的离子进行质量分析前，向该离子加入质荷比已知的离子；

b)质谱图制作部，其基于由离子加算部加算离子时所获得的质谱数据，制作MSⁿ质谱图；以及

c)质量校正部，其在由所述质谱图制作部制作的MSⁿ质谱图中检测出与所述质荷比已知的离子对应的峰，利用该峰的质荷比的实测值和已知的质荷比值之间的差，校正所述MSⁿ质谱图中的各峰的质荷比。

5.一种质量分析装置，其特征在于，能够进行MSⁿ(此处n是2以上的整数)分析，具备：离子解离部，其使源自试料中的化合物的离子解离；质量分析部，其对由该解离操作而生成的离子进行质量分析，

该质量分析装置具备：

a)分析控制部，其在即将对被检试料进行MSⁿ分析之前或刚对被检试料进行MSⁿ分析之后，使所述离子解离部和质量分析部工作，以便对具有已知的质荷比的离子进行不实施解离操作的质量分析；

b)质谱图制作部，其合并由对所述被检试料进行MSⁿ分析而获得的质谱数据以及在所述分析控制部的控制下通过对具有已知的质荷比的离子进行质量分析而得到的质谱数据，来制作MSⁿ质谱图；以及

c)质量校正部，其在由所述质谱图制作部制作的MSⁿ质谱图中检测出具有所述已知的质荷比的峰，并利用该峰的质荷比的实测值和已知的质荷比值之间的差，校正所述MSⁿ质谱图中的各峰的质荷比。