[发明专利]用于拾取细胞物质的方法及用于执行该方法的组件有效
| 申请号: | 201280058605.5 | 申请日: | 2012-09-28 |
| 公开(公告)号: | CN103958661B | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
| 发明(设计)人: | 耶特瑟·博特马;马泰恩·克雷夫斯特拉;马泰恩·山大·贝恩特森;蒂诺·沃尔特·凡德希 | 申请(专利权)人: | BD克斯特拉有限公司 |
| 主分类号: | C12M1/26 | 分类号: | C12M1/26;G01N15/10 |
| 代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 归莹;张颖玲 |
| 地址: | 荷兰德*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 拾取 细胞 物质 方法 执行 组件 | ||
1.用于从培养皿中的培养基的表面拾取细胞物质的方法,所述方法顺序地包括以下步骤:
使拾取工具朝向所述细胞物质移位,
确定所述拾取工具和所述细胞物质之间的接触,以及
将所述拾取工具从所述细胞物质移开从而拾取细胞物质,其中,确定所述拾取工具和所述细胞物质之间的接触的步骤通过执行电容测量进行。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法进一步包括以下步骤:
将所述培养皿放置到由导电材料制成的支撑体上;
使用由电绝缘材料制成的培养皿;
使用由导电材料制成的拾取工具;
将所述拾取工具放置在远高于所述培养皿的初始位置;
在所述拾取工具处于所述初始位置时测量由所述拾取工具和所述支撑体组成的系统的初始电容;
沿朝向所述培养皿的方向从所述初始位置降低所述拾取工具;
在降低所述拾取工具期间测量由所述拾取工具和所述支撑体组成的系统的电容。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述方法进一步包括步骤:当所测得的电容偏离所述初始电容时,在接触位置下停止降低所述拾取工具。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述方法进一步包括步骤:当所测得的电容偏离所述初始电容时,测量所述拾取工具的接触位置。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述方法进一步包括以下步骤:将所述拾取工具从所述接触位置朝向检验位置移开预定距离并且将所述拾取工具保持在所述检验位置;以及在所述检验位置下测量由所述拾取工具和所述支撑体组成的系统的电容。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其中,所述方法进一步包括提供用于可移除地保持拾取工具的拾取工具保持器,所述拾取工具保持器适合于夹持和释放拾取工具。
7.根据权利要求5和6所述的方法,其中,所述方法进一步包括步骤:在所述检验位置下所测得的电容不同于所述初始电容的情况下从所述拾取工具保持器释放所述拾取工具,使得所述拾取工具落入到所述培养皿中;并且所述方法可选地包括丢弃所述培养皿的步骤。
8.根据权利要求2或从属于权利要求2的权利要求3-7中任一项所述的方法,其中,所述方法包括:提供导电材料的环形元件来作为所述由导电材料制成的支撑体的步骤;以及将透明电绝缘材料的元件或层片夹置于所述支撑体和所述培养皿之间的步骤。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的方法,其中,所述方法包括使用由导电塑料制成的拾取工具的步骤。
10.根据权利要求1-9中任一项所述的方法,其中,所述方法包括每当必须从培养皿中的培养基的表面拾取细胞物质时使用新的拾取工具的步骤。
11.用于执行根据权利要求1-10中任一项所述的用于从培养皿中的培养基的表面拾取细胞物质的方法的组件,所述组件包括:
拾取工具装置,所述拾取工具装置包括导电材料的拾取工具保持器,所述拾取工具保持器以电绝缘的方式被安装到所述拾取工具装置上,所述拾取工具保持器保持由导电材料制成的拾取工具,所述拾取工具以导电的方式被所述拾取工具保持器保持;
培养皿,所述培养皿由电绝缘材料制成;
支撑体,所述支撑体由导电材料制成并且用于支撑所述培养皿;
定位装置,所述定位装置用于将所述拾取工具定位到所述培养皿上方的初始位置,并且所述定位装置用于分别朝向所述培养皿降低所述拾取工具以及远离所述培养皿提升所述拾取工具;
控制器,所述控制器用于控制所述定位装置的运动;
测量装置,所述测量装置用于执行电容测量以便确定由所述拾取工具和所述支撑体组成的系统的电容,所述测量装置适合于在所述拾取工具处于初始位置时确定由所述拾取工具和所述支撑体组成的系统的初始电容并且适合于将代表所述初始电容的信号提供给所述控制器,所述测量装置适合于在朝向所述培养皿降低所述拾取工具时确定由所述拾取工具和所述支撑体组成的系统的电容并且适合于将代表所测得的电容的信号提供给所述控制器;
所述控制器包括比较器,所述比较器用于执行降低所述拾取工具期间的电容与所述初始电容的比较并且用于提供指示所述比较的比较信号,所述控制器至少基于所述比较信号来控制所述定位装置的运动。
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