[发明专利]用于制备眼镜片的方法有效

专利信息
申请号: 201280058351.7 申请日: 2012-11-16
公开(公告)号: CN103959143A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: M·卢克;B·霍尔沃特维尔莫特;F·杜博瓦 申请(专利权)人: 埃西勒国际通用光学公司
主分类号: G02C13/00 分类号: G02C13/00;B24B9/14
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;于静
地址: 法国沙*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 制备 眼镜片 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种制备毛坯眼镜片的一般方法,即,涉及有待修整成旨在将其装入其中的镜框的形状的镜片。

本发明更具体地涉及一种用于制备有待装入眼镜架的镜框内的眼镜片的方法,包括:

-一个用于确定所述镜框的一个纵向轮廓的二维几何形状的操作;

-一个定中心操作,其中,所述纵向轮廓被定位于一个与该眼镜片相关的参考系中;

-一个用于通过该眼镜片的一个光学面上的所述纵向轮廓的接触式或非接触式探测来获取该眼镜片的所述光学面的至少一部分的几何形状的操作;

-一个用于取决于该纵向轮廓在与该眼镜片相关的该参考系中的几何形状和位置、并取决于该眼镜片的所述光学面的所述部分的几何形状计算用于加工该眼镜片的多个指令的操作;以及

-一个用于根据所述加工指令加工该眼镜片的操作。

背景技术

眼镜商的工作的技术部分在于将一副眼镜片安装到佩戴者所选择的眼镜架中。

此安装操作可以被划分为三个主要操作:

-获取所选择的眼镜架的镜框的轮廓;

-对镜片定中心,其在于将所获取的两个轮廓转移到这两个眼镜片,其方式为使得一旦被沿着这两个轮廓修整并被安装在眼镜架中,就适当地将这些镜片定中心成面向佩戴者的瞳孔;然后

-对这些镜片进行机加工,其在于沿着这些轮廓对其进行切割。

在本发明的上下文中,更具体地是关于有框眼镜(即全框和半框(即“拱形的”)眼镜架)的问题。

对于这些眼镜架而言,眼镜商的具体目标是切割眼镜片,从而使得它们与镜框的形状在机械和美学上匹配,同时保证这些镜片尽可能最好地发挥光学功能,这些镜片是为这些光学功能而设计的。

该机加工操作具体包括在全框眼镜的情况下的一个斜切步骤,该步骤允许在镜片的边缘面上形成一个安装肋(通常称为斜面),该安装肋可以安装到沿眼镜架的相应镜框的内面走向的槽(通常称为企口(bezel))中。

相比之下,在半框眼镜架的情况下,该机加工操作包括一个允许在镜片的边缘面上形成一个安装槽的开槽步骤。当镜片被安装在眼镜框中时,此安装槽与一个沿该眼镜架的相应半框(或“弧”)的内面走向的肋啮合。然后,使用一根线将眼镜片固定为紧压此弧,该线通常由尼龙(可选地,由金属)制成,啮合在安装槽中并且其末端触及该弧的末端。

如果要将镜片完美地安装到其镜框中,不论选择何种类型的眼镜架都必须小心地实施获取和机加工操作,具有吸引力的是,不需费力和“首轮(the first time round)”,即不需要对尼龙线进行额外机加工或加长。

虽然各种操作都是小心地进行,但是镜片的安装或安装后的镜片的外观会出现后修整问题。

然后,可能证明有必要消除镜片从其镜框滑落的任何风险、重做镜片和/或修改尼龙线的长度,在实践中证明这样做是有困难的。

从而,为了提高眼镜片修整的质量,已知的是从眼镜商可获得的数据库获取镜片的前面和后面的图,以便允许镜片安装在其有待模制的镜框内并允许取决于此模型的结果对这些镜片进行修整。

此解决方案的主要缺陷是需要一个最新数据库对眼镜商可用,在实践中很少出现这种情况。确切地说,使这种数据库可获得通常被认为与有关镜片形状的保密性程度是相冲突的。

发明内容

为了补救现有技术的上述缺陷,本发明提供了一种允许在不依赖数据库的情况下对眼镜片的表面的至少一部分进行模制的方法。

更具体地,根据本发明,提供了一种如在前言中所定义的方法,其中,所述获取操作包括:

-一个取决于所述纵向轮廓的二维几何形状计算位于沿着两条不同的纵向迹线的多个测量点的二维坐标的步骤,这些纵向迹线被安排在该纵向轮廓的任一侧并被选择为使得它们在彼此之间限定一个沿着所述纵向轮廓延伸的带;以及

-一个以计算所述加工指令为目的而检查眼镜片的所述光学面以便获取所述测量点的三维坐标的步骤。

从而,借助于本发明,对镜片的光学面进行检查以获取位于该纵向轮廓附近的点的坐标,由此使得可以产生所述带的一个图,以便具体允许接近镜片在必须被修整的区域中的曲率。

从而,将此曲率考虑在内的情况下以更高的精度加工镜片(例如,修整镜片)是可能的。

以下为根据本发明的方法的其他有利和非限制特征:

-在该确定操作中,获取多个基本点的二维坐标,这些点属于该纵向轮廓并且对该纵向轮廓的二维几何形状进行表征,并且,在该计算步骤中,所选择的测量点各自与该纵向轮廓的这些基本点中的一个一致;

-这两条纵向迹线与该纵向轮廓相似;

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