[发明专利]用于制备眼镜片的方法有效
申请号: | 201280058351.7 | 申请日: | 2012-11-16 |
公开(公告)号: | CN103959143A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | M·卢克;B·霍尔沃特维尔莫特;F·杜博瓦 | 申请(专利权)人: | 埃西勒国际通用光学公司 |
主分类号: | G02C13/00 | 分类号: | G02C13/00;B24B9/14 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 法国沙*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 制备 眼镜片 方法 | ||
1.一种用于制备有待装入眼镜架(10,20)的镜框(11,21)中的眼镜片(30)的方法,包括:
-一个用于确定所述镜框(11,21)的一个纵向轮廓(50)的二维几何形状的操作;
-一个定中心操作,其中,所述纵向轮廓(50)被定位于一个与该眼镜片(30)相关的参考系(X2,Y2)中;
-一个用于通过该眼镜片(30)的一个光学面(32)上的所述纵向轮廓(50)的接触式或非接触式探测获取该眼镜片(30)的所述光学面(32)的至少一部分的几何形状的操作;
-一个用于取决于该纵向轮廓(50)在与该眼镜片(30)相关的该参考系(X2,Y2)中的几何形状和位置、并取决于该眼镜片(30)的所述光学面(32)的所述部分的几何形状确定用于加工该眼镜片(30)的多个指令的操作;以及
-一个用于根据所述加工指令加工该眼镜片(30)的操作,
其特征在于,所述获取操作包括:
-一个取决于所述纵向轮廓(50)的二维几何形状计算位于沿着两条不同的纵向迹线(51,52)的多个测量点(Ρ'i,Pi)的二维坐标的步骤,这些纵向迹线被安排在所述纵向轮廓(50)的任一侧并被选择为使得它们在彼此之间限定一个沿着所述纵向轮廓(50)延伸的带;以及
-一个检查该眼镜片(30)的所述光学面(32)以便获取所述测量点(Ρ'i,Pi)的三维坐标的步骤,
并且在于,取决于所述测量点(P'i,Pi)的三维坐标确定所述加工指令。
2.如前述权利要求所述的制备方法,其中,在该确定操作中,获取多个基本点(Pi)的二维坐标,这些点属于该纵向轮廓(50)并且对该纵向轮廓(50)的二维几何形状进行表征,并且,在该计算步骤中,所选择的测量点(P'i,Pi)各自与该纵向轮廓(50)的这些基本点(Pi)中的一个相关联。
3.如权利要求1和2之一所述的制备方法,其中,这两条纵向迹线(51,52)与该纵向轮廓(50)相似。
4.如权利要求1和2中的任一项所述的制备方法,其中,这两条纵向迹线(51,52)是该纵向轮廓(50)的常数差分变换。
5.如前述权利要求之一所述的制备方法,其中,在该检查步骤中,沿着这两条纵向迹线(51,52)探测该眼镜片(30)的所述光学面(32)。
6.如前述权利要求所述的制备方法,其中,在该检查步骤中,还沿着该纵向轮廓(50)探测该眼镜片(30)的所述光学面(32),以便获取此纵向轮廓(50)的多个基本点(Pi)的三维坐标,并且其中,取决于所述基本点(Pi)的三维坐标计算所述加工指令。
7.如前述权利要求之一所述的制备方法,其中,在该检查步骤中,获取该眼镜片(30)的另一光学面(31)的三个点的三维坐标,并从其中推导出此另一光学面(31)的曲率半径(Rc),并且其中,取决于此曲率半径(Rc)计算所述加工指令。
8.如前述权利要求之一所述的制备方法,其中,该加工操作包括一个修整该眼镜片(30)的步骤。
9.如前述权利要求之一所述的制备方法,其中,该加工操作包括一个蚀刻和/或冲压该眼镜片(30)的步骤。
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