[发明专利]用于近红外区域的光谱发光标准物

说明书

本发明涉及一种在近红外区域具有宽带发射的光谱发光标准物(spectral luminescence standard)，涉及一种用于制造该发光标准物的方法，以及涉及一种呈现光谱发光标准物或与之相关的用于校准光学测试装置或传感器的校准介质(calibration medium)。

有价文件，例如银行票据、支票、ID文件、信用卡、契据等，经常配有用于确保真实性的发光防伪标识(security feature)。通常在有价文件的预期使用期过程内多次测试这些防伪标识。

在已经制造有价文件或用于制造有价文件的防伪纸之后，必须测试发光物质的正确引入或施用。这通常通过在防伪纸材料幅生产线的合适位点上安装发光测试装置来实现。在运输系统的帮助下将材料幅输送通过各个生产模块(section)，并如此也输送通过固定安装的发光测试装置，其检测在输送过程中的材料幅的测量信号。

流通中的有价文件，特别是银行票据，在片材加工机器中测试其真实性和/或其状态，在其它情形中也用于测试其发光真实性标识。

出于这一目的，引导有价文件经过检测由该有价文件所发出的发光信号的相应的发光测试装置。

然而，出现这样的问题：所检测的发光信号遭受装置依赖性影响，这甚至可能随时间发生变化，使得用不同的装置得到的发光测量的比较是不可行的。因此，需要交付某些目标值规格的明确的参照系统(所谓的发光标准物)。在发光标准物的帮助下，能够校准或调整发光测试装置，从而不同时刻、不同装置的测量可彼此进行比较。

为了校准沿材料幅(例如防伪纸或有价文件的材料幅)的输送路径设置的和用于在制造材料幅时测试材料幅的发光测试装置，通常将校准介质置于测试装置的测量平面中，以便用该测试装置检测校准介质的校准测量值。出于这个目的，该校准介质能够在材料幅测试的中断期间中手动地置于测试装置中，从而校准介质代替材料幅暂时地位于测试装置的测试面中。校准介质是发光标准物或者包含发光标准物。校准介质具有与其相关的某个目标值，在测量校准介质时测试装置理想上检测所述某个目标值。在实际情形下，常常确定的是，实际测量值偏离该目标值。那么就必须重新调整测试装置，从而测试装置的测量值对应于校准介质所具有目标值。作为将校准介质手动置于测试装置中的备选方式，还能够输送校准介质经过测试装置，从而能够检测校准介质的多个校准测量值，并能够将这些测量值的平均值用于测试装置的校准。这样实现更加精确的校准。

在如用于有价文件加工的设备的片材加工器中，其中例如测试银行票据的真实性，通常将设备中的有价文件输送经过传感器，例如发光传感器。为了校准该传感器，将合适的校准介质代替有价文件输送经过传感器，该传感器感应校准介质的测量值。校准介质是发光标准物或者包含发光标准物。比较该测量值和与校准介质相关的目标值。如果测量值偏离目标值，那么必须调整传感器，直至在对校准介质的重新测量时其至少接近于目标值。然后能够再次使用传感器以测试有价文件。

对发光标准物的要求随所期望的用途而变化。如果发光标准物旨在用作用于校准测试片材用的传感器的校准介质，那么发光标准物应该可能以片状校准介质的形式提供。对于光学性质也有不同的要求。例如，基本上，必须区分代表用于测量发光物质吸收行为的参照系统的吸收标准物和代表用于测量发光物质的发射行为的参照系统的发光标准物。波长标准物(用于测试波长准确度的参照系统)必须具有尽可能多的窄谱带，而光谱标准物必须具有尽可能宽的、平滑的和无结构化(unstructured)的光谱。对于全部标准物满足(apply)它们应该具有高度的均匀性和各向同性以及低的温度依赖性，应该是长期稳定的且光稳定的，并应该以尽可能高的量子产率工作。

现有技术给出了可见光区的宽带发射光谱的发光标准物，但没有给出近红外区域内的具有宽带和无结构化发射的任何物质。近红外区域(NIR区域)是760～2500nm的波长区域。

为了保证有价文件的真实性，在其它物质中，使用发射1000～1500nm区域内波长的物质。然而，对于这个区域，迄今还没有任何可用的光谱发光标准物，即在用合适波长的激发光照射时发出宽带的和无结构的发光的发光标准物，特别是迄今还没有适合用作用于校准在片材加工器或造纸机中的发光传感器或发光测试装置的发光标准物的任何光谱发光标准物。

因此，本发明的目的是提供用于1000～1500nm区域的光谱发光标准物，即至少在1000～1500nm区域内具有宽的、无结构化的发光发射的发光标准物。

本发明的另一个目的是描述一种用于制造所述发光标准物的方法。