[发明专利]利用阻隔红外传感器确定绝对辐射值的方法和装置

说明书

提供各种技术用于热成像装置的一个或多个屏蔽(例如阻挡、阻隔和/或遮盖)红外传感器。在一个示例中，方法包括捕捉来自屏蔽红外传感器的信号，其中屏蔽红外传感器实质上受阻隔无法接收来自场景的红外辐射。该方法还包括捕捉来自设置为接收来自场景的红外辐射的未屏蔽红外传感器的信号。该方法还包括基于捕捉到的屏蔽红外传感器的信号确定屏蔽和未屏蔽红外传感器的平均热像偏移参考。该方法还包括基于平均热像偏移参考和捕捉到的未屏蔽红外传感器的信号来确定场景的绝对辐射值。

相关申请的交叉引用

本申请要求2012年03月28日提交的、名称为“利用阻隔红外传感器确定绝对辐射值(DETERMINATION OF AN ABSOLUTE RADIOMETRIC VALUE USING BLOCKED INFRAREDSENSORS)”的第61/616,766号美国临时专利申请的权益，该文献以其整体参考引用于此。

本申请要求2011年10月07日提交的、名称为“红外成像装置的非均匀校正技术(NON-UNIFORMITY CORRECTION TECHNIQUES FOR INFRARED IMAGING DEVICES)”的第61/545,056号美国临时专利申请的权益，该文献以其整体参考引用于此。

本申请还要求2011年06月10日提交的、名称为“红外照相机包装系统和方法(INFRARED CAMERA PACKAGING SYSTEMS AND METHODS)”的第61/495,873号美国临时专利申请的权益，该文献以其整体参考引用于此。

本申请还要求2011年06月10日提交的、名称为“红外照相机系统架构(INFRAREDCAMERA SYSTEM ARCHITECTURES)”的第61/495,879号美国临时专利申请的权益，该文献以其整体参考引用于此。

本申请还要求2011年06月10日提交的、名称为“红外照相机校正技术(INFRAREDCAMERA CALIBRATION TECHNIQUES)”的第61/495,888号美国临时专利申请的权益，该文献以其整体参考引用于此。

技术领域

本发明的一个或多个实施例总体上涉及热成像装置，更具体地，例如涉及在这样的装置中的阻隔红外传感器(blocked infrared sensor)的利用。

背景技术

现有的热成像器典型地与在阵列中排列的多个红外传感器一起实施，从而捕捉目标场景的热图像。各个红外传感器总体上呈现像素到像素变化(pixel-to-pixelvariation)，使得如果左边未校正，则接收相同红外辐射的红外传感器可以呈现显著不同的输出信号。

为了补偿这样的变化，可以在工厂测试过程中确定标准项(calibration term)。可惜，这样的工厂测试通常费时且昂贵。还可以通过温度控制快门的使用周期性地确定标准项。就这一点而言，快门可以用于暂时地阻隔红外传感器的阵列。通过捕捉快门的图像，可以为各个红外传感器确定各个偏移值。这些各个偏移值可以应用于目标场景的随后捕捉到的热图像，从而为红外传感器提供实质上一致的性能。可惜，传统的快门实施方式会易于发生机械故障。这样的快门还会增加热成像器的费用、重量以及复杂性。

发明内容

提供技术用于利用热成像装置的一个或多个屏蔽(例如，阻挡、阻隔和/或遮盖)红外传感器。在一个示例中，可以确定场景的热图像的每一个像素的绝对辐射值。例如，屏蔽红外传感器(shielded infrared sensor)可以用于确定平均热像偏移参考(averagethermographic offset reference)，该平均热像偏移参考可以进一步用于确定绝对辐射值。有利地，绝对辐射值可以用于在不依靠由工厂标准操作和/或基于快门的技术确定的像素到像素偏移值的情况下确定场景的热图像的每一个像素的温度。