[发明专利]在金属成型体和结合到厚布线或条片用的功率半导体间形成连接的方法在审
申请号: | 201280050150.2 | 申请日: | 2012-09-10 |
公开(公告)号: | CN103875067A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 马丁·贝克尔;罗纳德·艾西尔;弗兰克·奥斯特瓦尔德;加赛克·鲁兹基 | 申请(专利权)人: | 丹佛斯硅动力股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王鹏鑫 |
地址: | 德国石*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 成型 结合 布线 条片用 功率 半导体 形成 连接 方法 | ||
1.一种用于形成具有上侧电势面的功率半导体芯片(12)与厚布线或条片的连接的方法,其特征在于:
提供与所述上侧电势面的形状相对应的金属成型体(4、5);
在所述上侧电势面或所述金属成型体(4、5)上涂覆结合层(7);以及
在厚布线结合到所述成型体(4、5)的非结合上侧之前,布置所述金属成型体(4、5)并且形成与所述电势面的粘合的电导通连接。
2.根据权利要求1所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,所提供的所述成型体(4、5)包括由Cu、Ag、Au、Mo、Al、W构成的组中的至少一种金属或它们的合金,所述合金包括前述组中的一种或多种金属。
3.根据上述权利要求中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,利用所述结合层(7),成型体(4、5)和电势面通过烧结、扩散焊接或者胶合到所述功率半导体芯片(12)上的方式结合。
4.根据上述权利要求中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,提供所述成型体(4、5)的步骤是在有机承载箔(1)上进行的。
5.根据上述权利要求中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,具有所述功率半导体芯片(12)下侧形状的另外的成型体设置成与所述功率半导体芯片(12)下侧的结合层粘性连接,所述下侧与所述上侧电势面相对。
6.根据上述权利要求中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,能够耐住所述结合的热负载的电绝缘材料用于所述承载箔(1)。
7.根据上述权利要求中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,在结合之前,具有与电势面的数目对应数目的多个成型体(4、5)的承载箔(1)的承载片被置于两个以上的未分开的功率半导体芯片(12)上。
8.根据上述权利要求中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,在结合所述成型体(4、5)之后,在将所述功率半导体芯片(12)分开之前去除所述承载片。
9.根据上述权利要求1~7中任一项所述的用于形成功率半导体芯片(12)的连接的方法,其特征在于,在待结合的所述成型体(4、5)的中央局部表面的上方,所述承载片未设有粘合剂。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造