[发明专利]介入性成像有效

专利信息
申请号: 201280040773.1 申请日: 2012-06-21
公开(公告)号: CN103781423A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: P·A·赫尔姆 申请(专利权)人: 美敦力导航股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/12;A61B6/03
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张欣
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 介入 成像
【权利要求书】:

1.一种操作多个X-射线发射区域的发射器阵列的方法,其特征在于,所述X-射线发射区域是独立的且可操作用于发射由检测器检测的X-射线从而呈现对象的图像,所述方法包括:

获取在第一时刻处捕获的第一图像数据;

确定所述第一图像数据中的至少可能变化的区域;

分析在所确定的可能变化的区域处的第一图像数据;

选择要在第二时刻处供电的所述发射阵列中的多个X-射线发射区域中的次多个X-射线发射区域;以及

基于所述多个X-射线发射区域中的所选次多个X-射线发射区域,获取在第二时刻处捕获的第二图像数据。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

确定所选多个投影用于生成对象的至少一部分的所选重建;

其中选中要在第二时刻处供电的发射器阵列中的多个X-射线发射区域中的次多个X-射线发射区域,是基于确定多个X-射线发射区域中的哪些所选次多个X-射线发射区域是可操作用于得到用于生成所选重建的确定的所选多个投影中的至少一个。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述第一图像数据中至少可能变化的区域包括确定器械相对于对象的位置。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,确定所述器械的位置包括:

接收关于所述器械的跟踪信息;以及

确定器械的至少前沿相对于对象或多个X-射线发射区域中至少一个的位置;

其中器械的前沿是最可能在选中时间周期中移动的器械的部分。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,接收关于所述器械的跟踪信息包括接收电磁跟踪设备的三维空间坐标、接收弯曲传感器跟踪设备的三维空间坐标、或接收电势跟踪设备的三维空间坐标中的至少一个。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述第一图像数据中至少可能变化的区域包括确定对比剂前沿在对象中的位置。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:

标识反差区域,包括所捕获第一图像数据中的具有图像单元反差的所定义的区域;以及

将所述反差区域标识为可能变化的区域。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,还包括:

捕获具有至少两个能量级的第一图像数据,从而基于所述区域中的材料组成来区分对象区域。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,还包括:

确定多个投影用于生成所选显示;

其中选择要在第二时刻处供电的发射器阵列中的多个X-射线发射区域中的次多个X-射线发射区域,包括选择多个X-射线发射区域中的至少第一次多个X-射线发射区域,从而捕获与所述第一图像数据的至少一个投影不同的至少第二投影,以生成所选显示。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所选显示包括基于所确定的多个投影生成的对象的至少一部分的二维时间变化。

11.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

生成用于对第一图像数据的图像部分进行加权的矩阵;

其中选择要在第二时刻处供电的发射器阵列中的多个X-射线发射区域中的次多个X-射线发射区域是基于加权的矩阵的,所述加权的矩阵用于选择第二时刻期间要成像的对象的部分。

12.一种操作多个X-射线发射区域中发射器阵列的方法,其中所述X-射线发射区域是独立的,并可操作用于发射由检测器检测的X-射线以呈现对象的图像,所述方法包括:

确定相对于对象放置的器械的位置;以及

选择将要供电的发射器阵列中的多个X-射线发射区域中的次多个X-射线发射区域,以对所述器械的所确定的位置成像。

13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,还包括:

限制对于多个X-射线发射区域中的所选次多个X-射线发射区域的选择,以基本上照射其中确定器械所在的对象的部分。

14.如权利要求13所述的方法,其特征在于,器械的所确定的位置是基本仅是器械的前端的前端位置。

15.如权利要求13所述的方法,其特征在于,还包括:

查看基于仅用多个X-射线发射区域中的所选次多个X-射线发射区域捕获的图像数据的图像。

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