[发明专利]电容性传感器装置及用于校准电容性传感器装置的方法有效

专利信息
申请号: 201280039515.1 申请日: 2012-06-28
公开(公告)号: CN103748789B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 阿尔乔姆·伊万诺夫 申请(专利权)人: 微晶片科技德国公司
主分类号: H03K17/955 分类号: H03K17/955
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 沈锦华
地址: 德国伊*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电容 传感器 装置 用于 校准 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于接近及/或接触检测的电容性传感器装置及一种用于校准根据本发明的电容性传感器装置的方法。另外,本发明涉及一种手持式装置,特定来说,一种电手持式装置,其包括可使用根据本发明的方法校准的根据本发明的电容性传感器装置。

背景技术

在将借助于其检测接近及/或接触的电容性传感器装置中,可能需要必须一次地或以预定义时间间隔校准电容性传感器装置。举例来说,可能需要电容性传感器装置的校准以在改变的周围条件中也确保高检测准确度。

在电容性传感器装置的校准中存在问题:可能不能在每一任意时间点校准传感器装置,举例来说,当物体接近电容性传感器装置(即,接近电容性传感器装置的测量电极)时。布置于接近传感器装置处的物体可负面地影响传感器系统的校准使得最终错误地校准传感器装置。因此,可期望在于接近电容性传感器装置处未布置有影响校准程序的物体的时间点校准传感器装置。

另外,可期望分别在电容性传感器装置的激活之后及电力接通之后直接校准电容性传感器装置使得(举例来说)可在电手持式装置的电力接通之后直接使用提供于所述手持式装置中的电容性传感器装置。根据现有技术,在电手持式装置电力接通之后或在电容性传感器装置激活之后在预定义时间周期(约一秒)内直接校准电容性传感器装置。为了能够执行有序校准,不允许用户在此时间周期期间触摸手持式装置,因为此触摸又将负面地影响校准。举例来说,可经由显示装置告知手持式装置的用户:电容性传感器装置处于校准阶段。然而,如此一来,仍不能确保用户在校准阶段期间不操纵手持式装置。另外,如果仅出于人体工学原因,那么此方法是不可接受的。

在现有技术中已知的用于校准电容性传感器装置的其它可能性是:当电容性传感器装置的原始数据在预定义时间周期期间尚未改变或仅已改变极少(举例来说,因为用户已放下电手持式装置)时执行校准。然而,关于此方法的缺点是根本不能确保执行对传感器系统的校准,因为并不确保传感器装置的原始数据在预定义时间周期期间不改变或仅改变极少。另外,以下情形是不利的:在执行校准的时间点以前必定以未校准的方式处理电容性传感器装置的原始数据,此可导致接近及/或接触的错误检测。

在从现有技术已知的其它解决方案中,电手持式装置的用户激活校准行动。举例来说,此激活可借助于致动专门为此提供的按钮来执行。或者,还可通过执行预定义手势来激活校准行动,其中应提供还可从传感器装置的最初未校准的原始数据辨识的此类手势。举例来说,此类手势可为滑动手势或此前放置于电手持式装置上的手指的快速移除。此方法具有以下缺点:由于校准是由用户启始的,因此在较长时间周期期间并不校准传感器装置,因为用户可能已忘记启始校准或并不知晓他/她必须执行校准。其它缺点是经提供用于传感器系统的激活的手势的执行可能导致无意校准且不能确保(举例来说)手指或手不负面地影响校准。

发明内容

本发明的目标

本发明的目标是提供允许校准电容性传感器装置、特定来说提供于电手持式装置中的电容性传感器装置的解决方案,其中校准的有利时间的确定不包括从现有技术已知的缺点,且其中当物体分别接近所述电容性传感器装置及接近测量电极时,则还可接着校准所述传感器装置。

根据本发明的解决方案

根据本发明,借助于根据独立权利要求的一种用于接近及/或接触检测的电容性传感器装置及一种用于校准电容性传感器装置的方法及一种手持式装置来达到所述目标。在相应附属权利要求中给出本发明的有利实施例及进步。

根据此,提供一种用于接近及/或接触检测的电容性传感器装置,其包括至少一个产生器电极、至少一个测量电极及至少一个校准电极,其中所述至少一个校准电极以预定义距离布置于邻近于所述至少一个测量电极处,其中所述至少一个测量电极及所述至少一个校准电极指派给所述产生器电极,其中可给所述至少一个产生器电极加载产生器电压且可给所述至少一个校准电极加载校准电压,且其中可使所述至少一个校准电极至少在第一操作模式及第二操作模式中操作,其中

-在所述操作模式中的每一者中,所述校准电压处于接地电压与所述产生器电压之间,且

-在每一操作模式中,所述校准电压是不同的。

所述电容性传感器装置可进一步包括评估装置,所述评估装置至少可与所述测量电极及所述校准电极耦合且经设计以

-在所述第一操作模式中给所述校准电极加载第一校准电压且检测所述测量电极与所述传感器装置的接地之间的第一电容,及

-在所述第二操作模式中给所述校准电极加载第二校准电压且检测所述测量电极与所述传感器装置的所述接地之间的第二电容。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于微晶片科技德国公司,未经微晶片科技德国公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280039515.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top